表面分析士について更新
表面分析研究会では、2002年4月から、表面分析技術の維持・向上に資するとともに技術の発展・標準化に寄与することを目的に、実用的な表面分析実務を行う能力のある方を 「表面分析士（英語名称：Surface Analyst Accredited）」として認定することとしました（「表面分析士」への名称変更について ）。
認定の範囲は、次の5分野です。
- 1.Ｘ線光電子分光法（XPS: X-ray Photoelectron Spectroscopy）
- 2.オージェ電子分光法（AES: Auger Electron Spectroscopy）
- 3.二次イオン質量分析法（SIMS: Secondary Ion Mass Spectrometry）
- 【D-SIMS: Dynamic SIMS、TOF-SIMS: Time of Flight SIMS】
- 4.電子線マイクロアナリシス（EPMA: Electron Probe Microanalysis）
- 【WDX: Wavelength Dispersive X-ray Spectrometry（波長分散型分光法）、
- EDX: Energy Dispersive X-ray Spectrometry（エネルギー分散型分光法）】
- 5.走査プローブ顕微鏡法（SPM: Scanning Probe Microscopy）
- 【AFM: Atomic Force Microscopy（原子間力顕微鏡）、
- STM: Scanning Tunneling Microscopy（走査トンネル顕微鏡）、その他】
「実務能力」の認定ですので、試験を行うことはせず、力量を示す資料を添付資料として提出していただき、書類で審査させていただきます。提出いただく添付資料としては、論文、技術報告、ラウンドロビンテスト参加報告、等、申請される方の力量が分かるものであれば、何でもけっこうです。ただし、平成28年2月の「表面分析士認定規定」の見直しにより、今まで以上に当研究会への活発な貢献も評価に加えることとしました。具体的には、当研究会主催のISOセミナーへの出席、研究会等での発表、当研究会機関紙であるJournal of Surface Analysisへの記事投稿を必須としました。また、ラウンドロビンテストについては、単なる測定データの提供は評価対象とはいたしませんのでご注意ください。
なお、力量を示す適当な資料がない場合も、どなたかの推薦状でも審査対象とさせていただきます。ただし、書面審査で申請者の「能力」が判断できるような内容を記述してください。
また、本認定制度は標準化に寄与することを目的としていることから、「標準化活動」に関する活動も評価対象といたします。申請書にある当該欄へは、研究会主催のISOセミナーへの参加、講師実績、当研究会での標準化活動への寄与、ISOやJIS出版に関わる活動などをアピールしてください。
認定を希望される方は、表面分析士認定申請書（下記）に必要事項を記入していただき、添付資料とともに下記の標準化活動部会担当まで電子メールにて提出してください。申請書はWordファイルで、付属資料はWordあるいはPDFファイルでご提出ください。申請書を受け取り後、担当より申請費用の支払い方法について連絡差し上げます。申請費用の入金確認後、審査開始となりますのでご注意ください。なお、本申請に関しては、原則として見積・納品・請求書を発行いたしませんので、あらかじめご了解ください。認定 委員会での審査結果は、委員会開催後、各申請者にご連絡いたします。
表面分析士認定申請書更新
認定者と認定範囲
2022年7月4日時点での認定者と認定範囲は下記のとおりです。（氏名50音順）
| 氏名 | 所属 | 認定範囲 | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 阿部 芳巳 | シーエーシーズ株式会社 | AES | SIMS | |||
| 伊藤 博人 | コニカミノルタ株式会社 | TOF−SIMS | ||||
| 井上 雅彦 | 摂南大学 | AES | SIMS | |||
| 荻原 俊弥 | NTTアドバンステクノロジ株式会社 | AES | ||||
| 奥村 洋史 | 三菱マテリアル株式会社 | AES | ||||
| 河合 潤 | 京都大学 | XPS | ||||
| 川畑 敬志 | 広島工業大学 | XPS | ||||
| 木村 隆 | 物質・材料研究機構 | AES | ||||
| 児島 淳子 | 株式会社 松下テクノリサーチ | XPS | AES | |||
| 櫻田 委大 | 鋼管計測株式会社 | XPS | AES | |||
| 佐藤 美知子 | 富士通分析ラボ株式会社 | XPS | AES | |||
| 眞田 則明 | アルバック・ファイ株式会社 | XPS | AES | TOF−SIMS | ||
| 志智 雄之 | 株式会社 日産アーク | XPS | AES | SIMS | ||
| 城 昌利 | 独立行政法人 産業技術総合研究所 | XPS | ||||
| 鈴木 昇 | 宇都宮大学 | XPS | ||||
| 鈴木 峰晴 | NTTアドバンステクノロジ株式会社 | XPS | AES | |||
| 高野 明雄 | NTTアドバンステクノロジ株式会社 | SIMS | ||||
| 高野 みどり | 株式会社 松下テクノリサーチ | XPS | ||||
| 田中 武 | 広島工業大学 | XPS | ||||
| 堤 建一 | 日本電子株式会社 | AES | ||||
| 當麻 肇 | 株式会社 日産アーク | XPS | ||||
| 富田 充裕 | 株式会社 東芝 | SIMS | ||||
| 永富 隆清 | 旭化成株式会社 | XPS | AES | D−SIMS TOF−SIMS | EPMA−WDX EPMA−EDX | |
| 中村 誠 | 株式会社 富士通研究所 | XPS | AES | |||
| 西尾 満章 | 物質・材料研究機構 | EPMA | ||||
| 橋本 哲 | 鋼管計測株式会社 | XPS | AES | SIMS | ||
| 東 洋渡 | 王子製紙株式会社 | XPS | SIMS | |||
| 降屋 幹男 | 神奈川県産業技術総合研究所 | AES | ||||
| 丸山 達哉 | 株式会社 富士ゼロックス | XPS | AES | |||
| 三浦 薫 | 株式会社 トクヤマ | XPS | ||||
| 茂木 カデナ | NTTアドバンステクノロジ株式会社 | AES | ||||
| 柳内 克昭 | TDK株式会社 | XPS | AES | |||
認定申請書送付先
表面分析研究会 標準化活動部会 【表面分析士認定申請】〒108-0074 東京都港区高輪3-6-7
e-mail: