第63回研究会 プログラム（2025.3.6-7）

開催日時：2025年3月6日(木) 13:00 ～ 7日(金)
開催場所：株式会社島津製作所　東京支社（＋オンライン会議）

第1日目： 3月6日(木)

  • 13:00 ～ 13:30参加受付
  • 13:30 ～ 13:40開会挨拶 オンライン講演会における注意事項
    牧野
  • 依頼講演
    • 13:40 ～ 14:20「クラスターイオンでスパッタされた有機分子の分子構造」
      松尾 二郎 （京都大学）
  • テーマ講演- TOF-SIMSの不確かさ
    • 14:20 ～ 15:00「ToF-SIMSにおける質量軸校正の不確かさについて（仮）」
      伊藤 博人（コニカミノルタ）
  • 15:00 ～ 15:20- 休憩-
  • 15:20 ～ 16:00「相対感度係数法の不確かさの決定（仮）」
    高野明雄（トヤマ）
  • 16:00 ～ 16:40「未知成分の同定に向けたTOF-SIMSにおける質量軸の校正
    ～ISO 13084:2018 Annex BおよびJIS K 0157:2021附属書B
    ならびにTOF-SIMS WG活動～」
    ○大友晋哉（古河電気工業），小林大介（AGC），伊藤博人（コニカミノルタ），青柳里果（成蹊大学）
  • 一般講演
    • 16:40 ～ 17:10「因子分析を用いた角度分解電子エネルギー損失分光法によるGaN，GaP，GaSbのエネルギー損失関数の決定：電子輸送パラメータ計算への応用」
      田中肇1，篠塚寛志2，吉川秀樹2，○田沼繁夫2（1日本製鐵 , 2物質・材料研究機構）
  • 17:10 ～ 17:15連絡事項
  • 17:15 ～ 18:00移動
  • 18:00 ～ 20:00懇親会

第2日目： 3月7日(金)

  • 9:30 ～ 10:00参加受付　（必要に応じて）
  • 依頼講演
    • 10:00 ～ 10:40「光電子分光法を用いた原子スケールコーティングの機能性評価」
      小川 修一（日本大学）
  • テーマ講演- 　XAFSの分析深さ
    • 10:40 ～ 11:20「XAFSの測定原理と分析深さ（テーマ講演趣旨説明）」
      陰地 宏（名古屋大学）
  • 11:20 ～ 11:30- 休憩-
  • テーマ講演- 　XAFSの分析深さ
    • 11:30 ～ 12:10「蛍光収量XAFSにおける分析深さの検証（仮）」
      ○村井 崇章，陰地宏，戸谷晃輔，岡島敏浩,　國枝秀世（あいちシンクロトロン光センター）
  • 12:10 ～ 13:30-昼食 -(研究会では準備いたしませんので各自でお取りください）
  • テーマ講演- 　XAFSの分析深さ
    • 13:30 ～ 14:10「電子収量法によるXAFS測定の観察深さの検討」
      ○田渕雅夫1,2，安藤大生3，原碧生3，柴山茂久2，中塚理2（1名大SR研究センター，2名大院工，3名大工）
    • 14:10 ～ 14:50「量子ビームで覗くコンタクトレンズのナノワールド　表面を可視化する」
      ○伊藤恵利1,2，河合純希1,3，山本勝宏3（1株式会社メニコン　2東北大学　3名古屋工業大学）
  • 14:50 ～ 15:10- 休憩-
  • PSA-24より
    • 15:10 ～ 15:50「角度分解XPSを基盤とした多次元界面可視化：計測ビッグデータ解析と機械学習を活用したシミュレーションアプローチ」
      ○豊田智史，町田雅武（シエンタオミクロン）
    • 15:50 ～ 16:30「AES高速スペクトルマップ測定に向けたデノイズ方法の検討（仮）」
      ○鍋島 冬樹1，伊木田 木の実1，内田 達也1，横内 和城1，田中 章泰1，大濱 敏之1，堤 建一1，田口 昇2（1日本電子，2産業技術総合研究所）
  • 一般講演
    • 16:30 ～ 16:50「計測データの共用を推進する推奨実験条件の提案 ― ULVAC-PHI製XPS装置版」
      安福秀幸（物質・材料研究機構）
  • 16:50 ～ 16:55連絡事項
    牧野
  • 16:55 ～ 17:00閉会挨拶
    永富

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