第62回研究会 プログラム（2024.7.4-5）

開催日時：2024年7月4日(木) 13:00 ～ 5日(金)
開催場所：株式会社島津製作所　本社（＋オンライン会議）

第1日目： 7月4日(木)

  • 13:00 ～ 13:30参加受付
  • 13:30 ～ 13:40開会挨拶 オンライン講演会における注意事項
    牧野
  • テーマ講演- 電子分光スペクトルデータの解析と解釈
    • 13:40 ～ 14:20「光電子ピークとAuger電子ピークの統合解析による酸化銅の化学状態定量のアプローチ」
      ○奥村 洋史1，篠塚 寛志2，村上 諒2，永田 賢二2，岡本 將1，佐藤 正光1，大島 知1， 三田 昌明1，新居 あおい1，二田 伸康1，吉川 英樹2 (1三菱マテリアル、2物質・材料研究機構)
    • 14:20 ～ 15:00「参照スペクトルを用いたXPSスペクトルの自動解析」
      村上 諒，永田 賢二，篠塚 寛志，吉川 英樹（物質・材料研究機構)
  • 15:00 ～ 15:20- 休憩-
  • 15:20 ～ 16:00「実験室系HAXPESによるAgとCuの化学状態分析」
    西田 真輔、大友 晋哉（古河電気工業）
  • 依頼講演
    • 16:00 ～ 16:40「Standardization of work function measurement via VAMAS study」
      Jeong Won Kim (KRISS, Korea)
  • 一般講演
    • 16:40 ～ 17:05「ToF-SIMSデータへの機械学習の応用による試料中未知物質の評価」
      花ノ木 祥平（積水化学工業）
  • 17:05 ～ 18:00移動
  • 18:00 ～ 20:00懇親会

第2日目： 7月5日(金)

  • 9:30 ～ 10:00参加受付　（必要に応じて）
  • テーマ講演- 電子分光スペクトルデータの解析と解釈
    • 10:00 ～ 10:40「IMFP計算例の紹介」
      松村 純宏 (ウエスタンデジタルテクノロジーズ合同会社)
    • 10:40 ～ 11:20「XPSスペクトルシミュレータSESSAを活用した試料内部の層構造の自動推定とその高速化」
      米田 駿一2，村上 諒1，永田 賢二1，篠塚 寛志1，田中 博美2，田沼 繁夫1，○吉川 英樹1 （1物質・材料研究機構、2米子高専）
  • 11:20 ～ 13:00-昼食 -(研究会では準備いたしませんので各自でお取りください）
  • テーマ講演- 電子分光スペクトルデータの解析と解釈
    • 13:00 ～ 13:40「Al線とCr線の情報深さの違いを利用した分析事例の紹介」
      橋本 真希（アルバック・ファイ）
    • 13:40 ～ 14:20「AESを用いたREELSによる分析深さとArイオンスパッタダメージ深さの評価」
      伊木田 木の実、鍋島 冬樹、堤 建一（日本電子）
  • 14:20 ～ 14:40- 休憩-
  • 若手講演
    • 14:40 ～ 15:20「XPSスペクトルにおけるサテライトピーク」
      川崎 聖治（村田製作所）
  • 一般講演
    • 15:20 ～ 15:50「鉛蓄電池におけるウルトラファインバブルの電極界面現象」
      尾木 佑輝（都立科学技術高校）
  • 15:50 ～ 15:55連絡事項
    牧野
  • 15:55 ～ 16:00閉会挨拶
    永富

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