第60回研究会 プログラム（2023.6.29-30）

開催日時：2023年6月29日(木) 13:00 ～ 30日(金)
開催場所：株式会社島津製作所 殿町事業所（＋オンライン会議）

第1日目： 6月29日(木)

  • 13:00 ～ 13:30参加受付
  • 13:30 ～ 13:40開会挨拶 オンライン講演会における注意事項
    牧野
  • テーマ講演-　イオンビームによる分析
    • 13:40 ～ 14:20「SIMSによる原始太陽系の解剖」
      圦本 尚義（北海道大学理学研究院）
    • 14:20 ～ 15:00「回転電場質量分離技術を用いた一次イオンビーム形成に関する研究」
      野島 雅（東京理科大学・総合研究院）
  • 15:00 ～ 15:20休憩
  • SEMの物理学
    • 15:20 ～ 16:00「線形代数とSEM」
      関口 隆史（筑波大学）
  • 退官記念講演
    • 16:00 ～ 16:40「データ整形とマテリアルズインフォマティクス」
      吉武 道子（NINS）
  • 16:40 ～ 16:50休憩
  • 依頼講演
    • 16:50 ～ 17:20「電子の非弾性平均自由行程の一般式：JTP式の開発」
      A. Jablonski, ◯S. Tanuma, C.J. Powell（NIMS）
  • 17:20 ～ 18:30移動
  • 18:30 ～ 20:30懇親会

第2日目： 6月30日(金)

  • 9:30 ～ 10:00参加受付　（必要に応じて）
  • テーマ講演-　イオンビームによる分析
    • 10:00 ～ 10:40「2次イオン分析技術:この10年の飛躍を支える新技術」
      松尾 二郎（京都大学）
    • 10:40 ～ 11:20「FIB-TOFによる埋もれた界面のその場観察」
      飯田 真一（アルバック・ファイ）
  • 11:20 ～ 11:30休憩
  • 11:30 ～ 12:10「共鳴イオン化レーザーSNMS装置の開発と福島第一原発廃炉工程への応用」
    坂本 哲夫 （工学院大学・先進工学部・応用物理学科）
  • 12:10 ～ 13:30- 昼食 -(研究会では準備いたしませんので各自でお取りください）
  • テーマ講演-　イオンビームによる分析
    • 13:30 ～ 14:10「イオンビームを用いた表面分析手法ーCluster SIMS (Ar,CO2,H2O) & Scanning helium microscope (SHeM) ー（仮）」
      佐野 奈緒子（Ionoptika）
    • 14:10 ～ 14:50「二元有機混合物のRSFによる定量と不確かさ評価 (2)」
      高野 明雄 （株式会社トヤマ）
  • 14:50 ～ 15:10休憩
  • テーマ講演-　イオンビームによる分析
    • 15:10 ～ 15:50「CAMECA 3次元アトムプローブ装置の紹介と、最近の技術的進展」
      石川 真起志 （アメテック株式会社カメカ事業部）
    • 15:50 ～ 16:30「TEM, 中性子・X線小角散乱, 3次元アトムプローブによるCu-Ni-Si合金中析出相の解析」
      佐々木 宏和　（古河電気工業）
    • 16:30 ～ 16:55「Diffractive electron lenses: using thin film materials to focus electron beams」
      Da Bo（NIMS）
  • 16:55 ～ 17:00連絡事項
    牧野
  • 17:00 ～ 17:05閉会挨拶
    永富

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