開催場所:オンライン会議
第1日目: 3月2日(木)
- 13:00 ~ 13:30参加受付
- 13:30 ~ 13:35開会挨拶
- 13:35 ~ 13:40オンライン講演会における注意事項
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依頼講演
- 13:40 ~ 14:25「固‐液界面現象の電子状態観測」
池永英司(名古屋大学)
- 13:40 ~ 14:25「固‐液界面現象の電子状態観測」
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テーマ講演
- 14:25 ~ 15:05「実験室型XPS装置による溶液種の観察と全固体電池の実働環境計測」
遠藤頼夢(三菱ケミカル株式会社)
- 14:25 ~ 15:05「実験室型XPS装置による溶液種の観察と全固体電池の実働環境計測」
- 15:05 ~ 15:25休憩
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テーマ講演
- 15:25 ~ 16:05「酸浸漬および熱酸化によるニッケルチタン合金酸化挙動のX線光電子分光解析」
坂本広太、林史夫(群馬大学)、大津直史(北見工業大学)
- 15:25 ~ 16:05「酸浸漬および熱酸化によるニッケルチタン合金酸化挙動のX線光電子分光解析」
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話題提供
- 16:05 ~ 16:30「日本表面真空学会 表面分析研究部会の活動紹介」
鈴木峰晴(SAコンサルティング)
第2日目: 3月3日(金)
- 9:30 ~ 10:00参加受付(必要に応じて)
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テーマ講演
- 10:00 ~ 10:40「ISO19668: 2017 XPSにおける均質材料中の元素の検出限界の推定・報告に関する文献紹介」
奥村洋史(三菱マテリアル株式会社) - 10:40 ~ 11:20「XPSにおける粉体試料固定方法とZr系無機化合物の検討」
中島圭一、宮澤悠介、吉岡信明、田口秀之(日本パーカライジング株式会社)
- 10:00 ~ 10:40「ISO19668: 2017 XPSにおける均質材料中の元素の検出限界の推定・報告に関する文献紹介」
- 11:20 ~ 12:50- 昼食 -(各サテライト会場のルールに従って各自でお取りください)
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テーマ講演-
- 12:50 ~ 13:30Powell賞受賞記念講演「XPSピーク面積解析の繰り返し精度改善」
眞田則明 - 13:30 ~ 14:10「XPSスペクトルの測定精度と試料の高さ合わせ」
黒河明、張麓ルウ (産業技術総合研究所)
- 12:50 ~ 13:30Powell賞受賞記念講演「XPSピーク面積解析の繰り返し精度改善」
- 14:10 ~ 14:30休憩
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一般講演
- 14:30 ~ 15:00「鉄鋼試料EBSD全菊池バンド解析の教師なし機械学習による解析とオペランド水素顕微鏡による水素透過評価」
青柳里果、林大介(成蹊大学)、村瀬 義治、宮内直弥、板倉明子(物質・材料研究機構) - 15:00 ~ 15:30「ベイズ超解像によるX線光電子スペクトルの高速取得」
原田俊太、辻森皓太(名古屋大学)、野本豊和(あいち産業科学技術総合センター)、伊藤孝寛(名古屋大学)
- 14:30 ~ 15:00「鉄鋼試料EBSD全菊池バンド解析の教師なし機械学習による解析とオペランド水素顕微鏡による水素透過評価」
- 15:30 ~ 15:35連絡事項
- 15:35 ~ 15:40閉会挨拶