第57回研究会 プログラム（2022.3.3-4）

開催日時：2022年3月3日(木) 13:00 ～ 4日(金)
開催場所：オンライン会議

第1日目： 3月3日(木)

  • 13:00 ～ 13:30参加受付
  • 13:30 ～ 13:35開会挨拶
    牧野
  • 13:35 ～ 13:40オンライン講演会における注意事項
    牧野
  • SEMの物理学 連携講演
    • 13:40 ～ 14:20「超低速SEMにおける0eV近傍のコントラスト発現機構と複相鋼組織観察への応用」
      青山 朋弘（JFEスチール（株））
  • テーマ講演【質量分析】
    • 14:20 ～ 15:00「真空エレクトロスプレー液滴イオン衝撃でのスパッタ特性から見えてくる液滴イオンの様相」
      二宮 啓（山梨大学）
  • 15:00 ～ 15:20休憩
  • Powell賞受賞記念講演
    • 15:20 ～ 16:00「AES化学状態マッピングに向けた全固体電池材料における電子線ダメージの検討」
      寺島雅弘（アルバック・ファイ（株））
  • 依頼講演
    • 16:00 ～ 16:40　「LIBのグラファイト負極上に生成されたSEI被膜のXPS分析」　
      渡邉俊祐（（株）島津製作所）
  • 16:40 ～ 18:00　休憩
  • 18:00 ～ 20:00　懇親会

第2日目： 3月4日(金)

  • 9:30 ～ 10:00参加受付
  • テーマ講演【質量分析】
    • 10:00 ～ 10:40「The Spatially-Resolved Illumination of Chemical Processes by Means of Mass Spectrometry Imaging: from Click-Chemistry to Biogenesis」
      Gregory L. Fisher（Physical Electronics）
    • 10:40 ～ 11:20「A discussion on mass resolution in secondary ion mass spectrometry」
      Zhanping Li（Tsinghua University）
    • 11:20 ～ 12:00 「鉄鋼材料分析への二次イオン質量分析法の適用」
      久保田直義（日鉄テクノロジー（株））
  • 12:00 ～ 13:30- 昼食 -（研究会では準備いたしませんので各自でお取りください）
  • テーマ講演【表面分析の標準化】
    • 13:30 ～ 14:10「ISO/TC 201の電子分光に関わる標準化活動の紹介」
      永富隆清（旭化成（株））
    • 14:10 ～ 14:50「ISO 29081:2010　AESにおける帯電制御の文献紹介」
      荒木祥和（（株）日産アーク）
    • 14:50 ～ 15:10休憩
  • テーマ講演【質量分析】
    • 15:10 ～ 15:50「アトムプローブを用いたGaNナノワイヤLEDの分析」
      城後香里（東芝ナノアナリシス（株））
  • 15:50 ～ 16:05連絡事項
    牧野
  • 16:05 ～ 16:10閉会挨拶
    永富

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