第54回研究会 プログラム（2020/7/30）

7月30日（木）

• 13:30 ～ 13:35開会挨拶
  伊藤
• 13:35 ～ 13:45オンライン講演会における注意事項説明
  
• 依頼講演
  • 13:45 ～ 14:25先端共用施設・技術プラットフォームの展望と課題 － ナノテクノロジープラットフォーム事業をベースとして
    田沼繁夫　（物質材料・研究機構　材料データプラットフォームセンター）
• ポスター講演
  • 14:25 ～ 14:37ポスターショートプレゼン（3分×4件）
    伊藤
  • 14:37 ～ 14:55ポスターセッションの説明および入室承認
    
  • 14:55 ～ 15:25
    ポスターセッション１
    • 実験室硬X線光電子回折法によるInN表面近傍の化学状態選別構造
      山下良之1*、Anli YANG1、小林啓介2 （1(国)物質・材料研究機構、2(国) 日本原子力研究開発機構)
    • Evaluation of water in thin films using Rifs and TOF-SIMS
      伊藤博人（コニカミノルタ）
  • 15:25 ～ 15:35休憩
  • 15:35 ～ 16:05
    ポスターセッション２
    • ナノ粒子粒径分布測定のための電子顕微鏡用試料調製
      黒河明、熊谷和博（産業技術総合研究所）
    • Core-shell structure analysis of powder materials using Al Kα XPS and Cr Kα HAXPES
      橋本真希、間宮一敏、宮山卓也、渡邉勝己（アルバック・ファイ）
  • 16:05 ～ 16:15休憩
  • 依頼講演
    • 16:15 ～ 16:55XPSの測定条件といくつかの注意点
      眞田則明（アルバック・ファイ）
  • 16:55 ～ 17:00連絡事項
    伊藤
  • 17:00 ～ 17:05閉会挨拶
    永富
  • 17:30 ～ 19:30懇親会