第53回研究会 プログラム（2019.7.1-2）

開催日時：2019年7月1日(月) 13:00 ～ 2日(火) 16:25（予定）
開催場所：多摩永山情報教育センター

第1日目： 7月1日(月)

  • 13:00 ～ 13:30参加受付
  • 13:30 ～ 13:35開会挨拶
    伊藤
  • テーマ講演
    • 13:35 ～ 14:25「環境電子顕微鏡によるガス・液中その場観察」
      川﨑忠寛 (ファインセラミックスセンター)
    • 14:25 ～ 15:15「コンフォーカル光学系を用いたリチウムイオン二次電池のオペランド観察」
      矢口淳子 (レーザーテック(株))
    • 15:15 ～ 15:30休憩
    • 15:30 ～ 16:20「大気圧MeV-SIMSの開発と固液界面分析」更新
      瀬木利夫 (京都大学)
    • 16:20 ～ 16:50「計測データ可読化変換ツールの開発とその公開」
      鈴木峰晴，長尾浩子，原田善之，篠塚寛志，松波成行，吉川英樹 (物質・材料研究機構)
    • 16:50 ～ 17:20「Testing and Standards for Surface Analysis (TASSA) レポート創設とJournal of Surface Analysis (JSA)発刊のころ.　- 表面分析の標準化を目指して -」
      田沼繁夫 (JSA 初代編集委員長 / 物質・材料研究機構)
  • 17:20 ～ 17:40- 移動 -
  • 18:00 ～ 20:00懇親会

第2日目： 7月2日(火)

  • 9:30 ～ 10:00参加受付（必要に応じて）
    • 10:00 ～ 10:50「Introduction of Bayesian spectral deconvolution with the exchange Monte Carlo method」
      松村純宏 (HGST Japan, Ltd.)
    • 10:50 ～ 11:30「XPSスペクトルの化学状態解析に関する論文の紹介」
      梶原靖子 ((株)村田製作所)
  • 11:30 ～ 13:00- 昼食 -（研究会では準備いたしませんので各自でお取りください）
    • 13:00 ～ 13:40「可視光から超軟X線帯の誘電関数データベースを目指した、高エネルギー分解能REELS装置の開発」
      原田善之 (物質・材料研究機構)
    • 13:40 ～ 14:20「REELSを用いたグラフェンの解析事例」
      島政英 (日本電子 (株))
    • 14:20 ～ 14:35休憩
    • 14:35 ～ 15:15「CuZn合金の選択スパッタリングに関する考察」
      山内康生 (矢崎総業(株))
  • 一般講演
    • 15:15 ～ 15:55「低エネルギー励起二次電子スペクトルの解釈　～二次電子像の理解を目指して～」
      橋本哲 (JFEテクノリサーチ(株))
    • 15:55 ～ 16:15「LEIPSおよびUPSを搭載したVersaProbeIIIによる有機半導体のバンド構造評価」
      寺島雅弘 (アルバック・ファイ(株))
  • 16:15 ～ 16:20連絡事項
    伊藤
  • 16:20 ～ 16:25閉会挨拶
    永富

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