第51回研究会 プログラム（2018.6.11-12）

開催日時：2018年6月11日(月) 13:00 ～ 12日(火) 16:30
開催場所：高知県

第1日目： 6月11日(月)

• 13:00 ～ 13:30参加受付
• 13:30 ～ 13:35開会挨拶
  伊藤
• テーマ講演
  • 13:35 ～ 14:15「最表面分析における断面観察」(仮）
    菱田智子（日本特殊陶業株式会社）
  • 14:15 ～ 14:55「電圧印加されたシリケートガラス表面の組成分布分析」
    池田 定達（旭硝子株式会社）
  • 14:55 ～ 15:10休憩
  • 15:10 ～ 15:50「ラボ型HAXPESによる絶縁物の測定」（仮)
    井上りさよ（アルバック・ファイ株式会社）
• 依頼講演
  • 15:50 ～ 16:30「高知コア研究所における表面分析の取り組み-NanoSIMSを用いたアプリケーションの紹介-」
    伊藤元雄（高知コア研究所　同位体地球化学研究グループ）
• 16:30 ～ 17:30- 移動 -
• 17:30 ～ 19:30懇親会

第2日目： 6月12日(火)

• 9:30 ～ 10:00参加受付（必要に応じて）
• • 10:00 ～ 10:30SEMの物理学
    「SEMにおける像シャープネス評価と評価用標準物質」
    熊谷 和博・黒河明(産業技術総合研究所　物質計測標準研究部門 表面・ナノ分析研究グループ)
  • 10:30 ～ 11:00「XPSによる非破壊深さ解析について」
    一條　稔　（マクセル株式会社）
  • 11:00 ～ 11:25「アンケートから見たユーザーニーズ ~ 共用設備・技術の強化・拡充の方向性」
    三浦　薫（物質材料研究機構）
• 11:25 ～ 13:00- 昼食 -（研究会では準備いたしませんので各自でお取りください）
• 依頼講演
  • 13:00 ～ 13:40「特異な形状を有するカーボンナノチューブの生成と電子顕微鏡法による評価」（仮）
    河野日出夫（高知工科大学環境理工学群）
• 一般講演
  • 13:40 ～ 14:10「NIMSにおける材料データ科学に向けたデータ収集の試み」
    鈴木峰晴（物質材料研究機構）
  • 14:10 ～ 14:20休憩
  • 14:20 ～ 14:50「キログラム定義改訂における表面分析の貢献」
    黒河明（産業技術総合研究所）
  • 14:50 ～ 15:10「スパッタリングで打ち込まれたArの分布と状態について　XPSによる結果」
    田中彰博1、野平博司2（1東京都市大学・ナノテクノロジー研究推進センター、2東京都市大学 電気電子工学科）
• 15:10 ～ 15:15連絡事項
  伊藤
• 15:15 ～ 15:20閉会挨拶
  永富