開催場所:大阪大学中之島センター
第1日目: 2月16日(木)
- 13:00 ~ 13:30参加受付
- 13:30 ~ 13:35開会挨拶
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SEMの物理学
- 13:35 ~ 14:05「走査電子顕微鏡の発展」
揚村寿英(物質・材料研究機構)
- 13:35 ~ 14:05「走査電子顕微鏡の発展」
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PSA-16報告
- 14:05 ~ 14:30「PSA-16国際会議報告」
永富隆清(旭化成株式会社)
- 14:05 ~ 14:30「PSA-16国際会議報告」
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Powell賞記念講演
- 14:30 ~ 15:00"Analysis of the shape of cross sections developed under shave-off condition sputtering"
So‐Hee Kang(東京大学)
- 14:30 ~ 15:00"Analysis of the shape of cross sections developed under shave-off condition sputtering"
- 休憩
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テーマ講演 -データ-
- 15:10 ~ 15:15企画意図説明
- 15:15 ~ 15:50「材料情報の多面的利用」
吉武道子(物質・材料研究機構) - 15:50 ~ 16:25「電子分光シミュレーターSESSAの使い方とCOMPROとの連携」
三浦 薫(物質・材料研究機構) - 16:25 ~ 17:00「不ぞろいなデータを集めたデータベースが世界標準になるまで」
- マススペクトルのデータベース MassBank -
西岡孝明(京都大学名誉教授)
- 17:00 ~ 17:05連絡など
- 17:05 ~ 17:30移動
- 17:30 ~ 19:30懇親会
第2日目: 2月17日(金)
- 9:00 ~ 9:30参加受付
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話題提供
- 9:30 ~ 10:00「失敗から学ぶ?! より正確な表面分析のための技術の探究」
堤建一(日本電子株式会社)
一般講演- 10:00 ~ 10:30「エネルギー値高精度較正の為のピークエネルギー値再考」
田中彰博 (東京都市大学) - 休憩
- 10:40 ~ 11:10「接触面積を制御したnm薄膜に非破壊で電気コンタクトするプローブの開発」
吉武道子(物質・材料研究機構) - 11:10 ~ 11:40「XPSのアナログ計測の可能性とAES・SEデーターベース(B)」
後藤敬典 (産総研・中部センター)
- 9:30 ~ 10:00「失敗から学ぶ?! より正確な表面分析のための技術の探究」
- 11:40 ~ 12:55昼食
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テーマ講演 -データ-
- 12:55 ~ 13:30「XPSデータベースWG活動報告」
薗林豊(京都大学) - 13:30 ~ 14:05「SASJ XPS WGにおけるメタデータ入力支援アプリの解説」
吉川英樹(物質・材料研究機構) - 休憩
- 12:55 ~ 13:30「XPSデータベースWG活動報告」
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チュートリアル
- 14:15 ~ 15:25「COMPRO12の使用法(1)」
吉原一紘(シエンタオミクロン株式会社)
- 14:15 ~ 15:25「COMPRO12の使用法(1)」
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特別講演
- 15:25 ~ 15:50「表面分析におけるちょっとした工夫の紹介」
佐藤 美知子(富士通クオリティ・ラボ)
- 15:25 ~ 15:50「表面分析におけるちょっとした工夫の紹介」
- 15:50 ~ 15:55連絡事項
- 15:55 ~ 16:00閉会挨拶
永富