第38回表面分析研究会プログラム（2012.1.12 現在）
| 開催日時： | 2012年 2月 9日（木） 13:30 ～ 10日（金） 16:00（予定） |
| 開催場所： | 名城大学名駅サテライト |
第１日目： 2 月 9 日（木）
| 13:00 ～ 13:30 | 受付 | |
| 13:30 ～ 13:40 | 開会挨拶 | 吉川英樹（(独)物質・材料研究機構） |
| 一般講演 | ||
| 13:40 ～ 14:10 | Powell賞受賞記念講演： 「化合物半導体表面に形成されるダメージ層の電子線ホログラフィー観察に与える影響（仮題）」 | ○大友晋哉，佐々木宏和（古河電気工業(株)） |
| 14:10 ～ 14:50 | 「マルチエミッタ評価装置による電子放出素子のその場・リアルタイム観察」 | ○村田英一，原田久嗣，稲垣亮祐，下山 宏（名城大学理工学部） |
| 14:50 ～ 15:20 | 「走査ＡＥＳ電顕による２次電子利得の絶対計測（仮題）」 | 後藤敬典（(独)産業技術総合研究所） |
| 15:20 ～ 15:40 | break | |
パネルディスカッション | ||
| 15:40 ～ 17:30 | 企業の分析部門における人材育成とSASJへの期待 | パネリスト： 名越正泰（JFEスチール(株)）， 堂前和彦（(株)豊田中央研究所）， 三浦薫（(株)トクヤマ）， 柳内克昭（TDK(株)） |
| 懇親会 | ||
| 18:00 ～ 20:00 | 懇親会 | |
第２日目： 2 月 10 日（金）
| 10:00 ～ 10:10 | 受付 | |
| 一般講演 | ||
| 10:10 ～ 10:50 | 「化学試験を例としたISO/IEC17025試験認定取得の実際（方法、意義、運営）」 | 川田哲 （エスアイアイ・ナノテクノロジー(株)） |
| 10:50 ～ 11:20 | 「感度係数法による表面定量分析の現状と課題」 | 田沼繁夫 （(独)物質・材料研究機構） |
| 11:20 ～ 11:50 | 「VAMAS-電子ビーム損傷ラウンドロビン試験報告」 | ○田中彰博、木村 隆、福島 整、岩井 秀夫、荻原 俊弥、田沼 繁夫 （(独)物質・材料研究機構） |
| 11:50 ～ 12:20 | 「HX-PESならびにXAFSを用いたITOとαNPD界面へ挿入された三酸化モリブデン薄膜の解析」 | 塩沢 一成 （(株)三井化学分析センター） |
| 12:20 ～ 13:30 | lunch | |
| ワーキンググループ | ||
| 13:30 ～ 15:50 | ワーキンググループ討議及び報告 | |
| 連絡・挨拶、閉会挨拶 | ||
| 15:50 ～ 16:00 | 連絡・挨拶 | 吉川英樹（(独)物質・材料研究機構）, 柳内克昭（TDK(株)） |
| 敬称略 |
| 以上 |
変更がありましたら、そのつどご案内いたします。
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