2018年度 実用表面分析講演会 プログラム（2018.10.15-16）
Symposium on Practical Surface Analysis 2018　(PSA-18)

開催日時：2018年10月15日(月) 13:30 ～ 16日(火) 16:30
開催場所：プラサヴェルデ（ふじのくに千本松フォーラム）　401大会議室

第1日目： 10月15日(月)

  • 13:00 ～ 13:30参加受付
  • 13:30 ～ 13:35開会宣言
  • ポスターショートプレゼンテーション　（402会議室）
    • 13:35 ～ 15:00全体（講演3分、討論2分）
      発表者
    • 15:00 ～ 15:15- 休憩及び準備 -
  • ポスターセッション　（403小会議室） ... ポスター一覧更新
    • 15:15 ～ 15:55前半（奇数）
    • 15:55 ～ 16:35後半（偶数）
    • 16:35 ～ 17:00全体・Powell賞投票
  • 17:00 ～ 17:30移動、チェックイン
  • 17:30 ～ 19:30懇親会・Powell賞発表
  • 19:30 ～ 20:30移動，休憩（お風呂など）
  • ナイトセッション

第2日目： 10月16日(火)　（402会議室）

  • 9:30 ～ 10:00参加受付
  • テーマ講演（XRF）-1-
    • 10:00 ～ 10:40「蛍光X線での膜厚・組成分析の原理および分析例（仮）」
      高橋　学人（株式会社　リガク）
    • 10:40 ～ 11:20表面近傍の蛍光X線元素イメージング更新
      辻　幸一（大阪市立大学大学院）
  • 11:20 ～ 12:50- 昼食 -（研究会では準備いたしませんので各自でお取りください）
  • 招待講演
    • 12:50 ～ 13:30「窒化物半導体材料のアトムローブ解析(仮)」
      蟹谷 裕也,冨谷 茂隆（ソニー株式会社）
  • テーマ講演（XRF）-2-
    • 13:30 ～ 14:10「リファレンスフリー蛍光Ｘ線分析法における信頼性向上(仮）」
      桜井　健次（物質材料研究機構）
    • 14:10 ～ 14:50「エネルギー分散型微小部蛍光X線分析装置の紹介と応用例（仮）」
      坂東　篤（株式会社　堀場製作所）
  • 14:50 ～ 15:00- 休憩 -
  • 一般講演
    • 15:00 ～ 15:30ペプチドTOF-SIMSスペクトルのランダムフォレストによる解析
      青柳里果,1　 石倉航,1　志賀元紀2)
      (1成蹊大学理工学部, 2岐阜大学工学部)
    • 15:30 ～ 16:00調整中
  • 16:00 ～ 16:05連絡事項
    伊藤
  • 16:05 ～ 16:10閉会挨拶
    永富

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