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7月13日（木）
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| １．12:00 - 13:00 |
AES, XPSの装置性能パラメータの記述法 - 装置比較のために -
鈴木 峰晴（アルバック・ファイ）
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| ２．13:00 - 14:00 |
分析試料の取付け法と帯電補償・補正に関する記述法
當麻 肇（日産アーク）
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| ３．14:00 - 15:00 |
AES, XPS分析における空間分解能と分析領域の決定法
井上 雅彦（摂南大学）
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| ４．15:15 - 16:15 |
AESのエネルギー軸の校正法 - 元素分析と状態分析のために -
境 悠治（日本電子）
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| ５．16:15 - 17:15 |
XPSのエネルギー軸の校正法 - 状態分析のために -
橋本 哲（JFEテクノリサーチ）
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| 7月14日（金） |
| １．10:00 - 11:00 |
XPSとAESの強度軸の直線性の評価法 - 正しい計測のために -
吉原 一紘（アルバック・ファイ）
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| ２．11:00 - 12:00 |
XPSとAESの強度軸の繰り返し性と恒常性の評価法 - 正しい計測のために -
荒井 正浩（住友金属工業）
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| ３．12:00 - 13:00 |
XPSのバックグラウンド処理法 -ISO/TR 18392:2005の紹介-
福島 整（物質・材料研究機構）
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| ４．14:00 - 15:00 |
AES, XPSにおける感度係数法による定量 - 定量性を高めるために -
田沼 繁夫（物質・材料研究機構）
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| ５．15:00 - 16:00 |
SIMSによる定量 - 参照試料の利用法 -
高野 明雄（NTTアドバンステクノロジ）
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| ６．16:00 - 17:00 |
ISO規格における代表的な表面分析用語解説
後藤 敬典（産業技術総合研究所）
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| ７． |
総合討論
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