| 12:15 ～ 12:45 | 参加受付 |
| 12:45 ～ 12:50 | 開会挨拶 | |
| SASJ設立20周年記念講演会 |
| 12:50 ～ 13:20 | 「標準化の軌跡」 | 吉原 一紘（オミクロンナノテクノロジージャパン(株)、元物質材料研究機構理事） |
| 13:20 ～ 13:50 | 「Surface Analysis and its extension to Nano-Bio Analysis」 | DaeWon Moon (Department of New Biology, DGIST) |
| 13:50 ～ 14:20 | 「Interactions between Ar Ion /Cluster Ion Beam and Solid Surface for Practical Surface Chemical Analysis」 | Hee Jae Kang (Department of Physics, Chungbuk National University) |
| 14:20 ～ 14:35 | - 休憩及びディスカッション - |
| 14:35 ～ 15:05 | 「表面分析の絶対計測への道 ：絶対オージェスペクトル装置製作および測定から絶対二次電子収量計測まで」 | 後藤 敬典 （産業技術総合研究所中部センター) |
| 15:05 ～ 15:35 | 「複合解析技術による原子レベルキャラクタリゼーションの製造プロセスへの適用」 | 柳内克昭（TDK(株)） |
| 15:35 ～ 15:45 | - 休憩及びディスカッション - |
| 15:45 ～ 16:15 | 「表面定量分析の標準化の現状と課題：物理データベースからシミュレータへ」 | 田沼繁夫（物質材料研究機構） |
| 16:15 ～ 16:45 | ナノテク国際標準化の動きと日本の対応 ―COMS-NANO活動― | 一村信吾（名古屋大学教授、元産総研副理事長） |
| 16:45 ～ 18:25 | - 移動 - |
| 懇親会（20周年記念パーティー） |
| 18:30 ～ 20:30 | 懇親会 |
| 9:00 ～ 9:30 | 参加受付 |
| 通常研究会 |
| 日韓交流 |
| 9:30 ～ 10:00 | 「Standardization for Practical Surface Analysis in Korea」 | Kyung Joong Kim（Division of Industrial Metrology, Korea Research Institute of Standards and Science ） |
| 10:00 ～ 10:30 | 「Band alignment and chemical composition at buffer layers/CIGS solar-cell heterojunction」 | Tae Gun Kim(1,2), Jae-Hyung Wi(3), Dae-Hyung Cho(3), Yong-Duck Chung(2,3), ○Jeong Won Kim(1,2)（(1) Korea Research Institute of Standards and Science、(2)Korea University of Science and Technology 、(3)Electronics and Telecommunications Research Institute ） |
| 10:30 ～ 10:50 | - 休憩及びディスカッション - |
| Powell賞受賞記念講演 |
| 10:50 ～ 11:20 | 「動的Shirley法によるXPSスペクトルのバックグラウンド自動推定と定量分析の安定化」 | ○松本 凌(1)、西澤 侑吾(1)、田中 博美(1)、吉川 英樹(2)、田沼 繁夫(2)、吉原 一紘(3) （(1)米子工業高等専門学校、(2)物質・材料研究機構、(3)オミクロンナノテクノロジージャパン（株)) |
| 一般講演 |
| 11:20 ～ 11:50 | 「極微量Bの機器分析用標準試料の創製と検量線の作成」 | ○目黒奨、木村隆、中村照美、邱海、川田哲、西尾満章（物質・材料研究機構）、津﨑兼彰（物質・材料研究機構／九州大学） |
| 11:50 ～ 13:00 | - 昼食 - |
| Working Group 活動 |
| 13:00 ～ 15:50 | WG討議と報告 | |
| |
| 15:50 ～ 15:55 | 連絡事項 | 伊藤博人（コニカミノルタ(株）） |
| 15:55 ～ 16:00 | 閉会挨拶 | 永富隆清（旭化成(株)） |