第41回表面分析研究会プログラム 案 （2013.5.30）
| 開催日時： | 2013年 6月17日（月） 13:00 ～ 18日（火） 16:40（予定） |
| 開催場所： | 名古屋国際会議場 1号館3F 会議室133＋134 |
第１日目： 6 月 17 日（月） 13:00 - 17:00
| 12:30 ～ 13:00 | 参加受付 | |
| 13:00 ～ 13:10 | 開会挨拶 | 高橋和裕（(株)島津製作所） |
| 《一般講演》 | ||
| 13:10 ～ 13:40 | 「XPSスペクトル解析による遷移金属酸化物La1-xSrxMnO3導電性評価」 | ○菱田智子1), 大林和重1), 齋藤智彦2) （1)日本特殊陶業(株) ，2) 東京理科大学） |
| 13:40 ～ 14:10 | 「高機能XPSによる電池材料の分析技術」 | ○佐藤誓，馬場輝久 (株)日産アーク |
| 14:10 ～ 14:40 | 「ラベル化法における試料の物理変化と簡易な膜厚計測装置(仮)」 | ○伊藤博人，岩丸俊一（コニカミノルタ(株)） |
| 14:40 ～ 15:00 | - 休憩(20分) - | |
| 15:00 ～ 15:30 | 「PCAと球面SOM法によるTOF-SIMSスペクトル解析」 | ○吉原一紘1), 徳高平蔵2)（1)オミクロンナノテクノロジージャパン，2)SOMジャパン） |
| 15:30 ～ 16:00 | 「Cu上にSnメッキした試料のAES深さ方向分析波形データの球面SOM法による波形分類と標準試料による同定」 | 徳高平蔵（(有)ＳＯＭジャパン ） |
| 《ワーキンググループ講演》 | ||
| 16:00 ～ 16:30 | 「XPS-WG活動報告 斜入射スパッタリングで誘起されるTiO2膜の損傷の評価」 | ○大村和世（東北大学）, 高野みどり（パナソニック(株)AIS社）, 速水弘子（日鉄住金テクノロジー(株)） XPS-WG |
| 16:30 ～ 17:00 | 「高感度高分解能深さ方向分析のためのイオンガン調整 －多層膜試料を用いた分解能向上の確認の進捗報告－」 | ○山内康生（矢崎総業(株)） デプス WG |
| 17:00 ～ 18:00 | - 移動(60分) - | |
| 懇親会 | ||
| 18:00 ～ 20:00 | 懇親会 | |
第２日目： 6 月 18 日（火） 9:30 - 16:40
| 9:00 ～ 9:30 | 参加受付 | |
| 《一般講演》 | ||
| 9:30 ～ 10:00 | 「COMPROに追加するAES標準スペクトル; Cr, Ca, GaP, Mn, Ti」 | ○後藤敬典（(独)産業技術総合研究所 中部センター）, 吉原一紘（オミクロンナノテクノロジージャパン），田沼繁夫（(独)物質・材料研究機構）, 山内恭彦（(独)産業技術総合研究所 中部センター） |
| 10:00 ～ 10:30 | 「表面分析のシミュレーター用入力ファイル及び参照スペクトルの記述のためのXMLを用いた共通データフォーマットの提案」 | ○吉川英樹1), 渡部大介2)，吉原一紘3)，田中博美4)，田沼繁夫1)（1)物質・材料研究機構, 2)アルバックファイ, 3)オミクロンナノテクノロジージャパン, 4)米子高専） |
| 10:30 ～ 11:00 | 「イオンビームアライメントに関する国際規格（ISO16531）の紹介」 | ○永富隆清（旭化成(株)） |
| 《ワーキンググループ講演》 | ||
| 11:00 ～ 11:30 | 「第四級アンモニウムイオンを質量軸較正に用いたTOF-SIMSスペクトル解析」 | ○小林大介（旭硝子(株)）， TOF-SIMS WG |
| 11:30 ～ 13:30 | - 休憩(120分) - | |
| 《ワーキンググループ》 | ||
| 13:30 ～ 15:30 | 個別ディスカッション | |
| 15:30 ～ 16:30 | ディスカッション報告 | |
| 16:30 ～ 16:40 | 連絡・挨拶 | 柳内克昭（TDK(株)） |
| 敬称略 |
| 以上 |
変更がありましたら、そのつどご案内いたします。
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