第32回表面分析研究会プログラム
「有機材料分析の最前線〜理論的解析と分析現場への応用〜」２００８年６月２３日（月）１３：００〜６月２４日（火）１５：００
| ６月２３日（月） | ||
| 12:30〜 | 参加受付 | |
| 13:00〜13:05 | 開会挨拶 | 荒井 正浩（住友金属工業） |
| テーマセッション「有機材料分析の最前線〜理論的解析と分析現場への応用〜」 | ||
| 13:05〜14:45 | ＜前半＞ | |
| 「固体表面上有機薄膜のＸＰＳ測定とその応用」 | 鈴木 昇（宇都宮大） | |
| 「Simulation of Electron Spectra for Substances by DFT Calculations」 | 遠藤 一央 (東京理科大・客員教授) | |
| 14:45〜14:55 | −休憩(10分)− | |
| 14:55〜16:20 | ＜後半＞ | |
| 「FTIRを用いた表面分析例の紹介」（35分） | 土渕 毅（島津製作所） | |
| 「ポリマーアロイのナノ構造の分析〜TEM観察とX線小角散乱を中心に〜」（25分） | 高橋 洋平（日産アーク） | |
| 「ToF−SIMSによる腐食・接着不良解析」（25分） | 井原 理恵（TDK） | |
| 16:20〜16:30 | −休憩(10分)− | |
| 16:30〜17:30 | 話題提供（１） | |
| 「Introduction for Surface Analysis Performed by Prof. Pireaux's Groups at Namur University in Belgium」（35分） | 遠藤 一央 (東京理科大・客員教授) | |
| 「和光にオーロラがやってくる！−放射光利用の可能性を探って−」（25分） | 中尾 愛子（理化学研究所） | |
| 17:30〜18:00 | プロジェクト紹介 | |
| 18:30〜20:30 | 懇親会 ※討議の場として積極的に御活用下さい。 | |
| 20:30〜22:00 | プロジェクト討議 | |
| ６月２４日（火） | ||
| 09:00〜10:00 | ISOおよびVAMAS SCA-TWA2活動報告 | VAMAS SCA-TWA2国内対応委員会 |
| 10:00〜10:15 | −休憩(15分)− | |
| 10:15〜11:30 | プロジェクト報告 | 各プロジェクトリーダー |
| 電子線損傷 | ||
| バックグラウンド | ||
| ToF-SIMS | ||
| XPSミニラウンドロビン | ||
| 国際ミニワークショップ | ||
| その他 | ||
| 11:30〜13:00 | −昼食(90分)−※研究会では準備致しませんので、各自でお取り下さい | |
| 13:00〜14:00 | 基礎講座 | |
| 「オージェ分析の歴史-5（最終回）」 | 田中 彰博（アルバック・ファイ） | |
| 14:00〜14:50 | 話題提供（２） | |
| 「ToF-SIMSにおける冷却測定」 | 伊藤 博人（コニカミノルタテクノロジーセンター） | |
| 「（仮題）標準オージェ電子データ取得用CMA装置と産総研データベース」 | 後藤 敬典（産総研） | |
| 14:50〜14:55 | 連絡事項 | |
| 14:55〜15:00 | 閉会挨拶 | 柳内 克昭（TDK） |
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