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3月3日(木) |
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12:30〜13:00 |
研究会受付 |
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13:00〜15:15 |
テーマ講演 |
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「標準化の哲学」 |
後藤敬典(名古屋工業大学) |
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「標準化とは」 |
福島 整(物質・材料機構) |
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「ソフトウエアと標準化」 |
永富隆清(大阪大学) |
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「SERDプロジェクトと標準化」 |
新谷龍二(住金テクノ) |
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「電子線損傷の実際と標準化」 |
荒井正浩(住友金属) |
15:15〜15:30 |
休憩 |
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15:30〜17:00 |
パネルディスカッション |
司会 鈴木峰晴(アルバック・ファイ) |
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パネラー(予定) |
後藤敬典(名古屋工業大学)
田沼繁夫(物質・材料研究機構)
橋本 哲(JFEテクノ)
志智雄之(日産アーク)
柳内克昭(TDK) |
18:00〜20:00 |
懇親会(SASJ 10周年記念パーティー) |
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3月4日(金) |
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9:00〜15:00 |
ISO報告・プロジェクト関連報告 |
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「VAMASとSASJの関係」 |
田沼繁夫(物質・材料研究機構) |
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「デプスの標準化」 |
鈴木峰晴(アルバック・ファイ) |
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「EPMA,SEMにおける標準化」 |
木村 隆(物質・材料研究機構) |
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「有機物損傷の実際と標準化」 |
當麻 肇(日産アーク) |
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話題提供 |
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「絶対CMAの透過率計測」 |
後藤敬典(名古屋工業大学) |
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「新SERDサーバの紹介」 |
井上雅彦(摂南大学) |
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「球面自己組織化マップ(SSOM)による AES,XPSスペクトルのクラスタ分類」 |
徳高平蔵(SOMジャパン) |
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プロジェクト討議 |
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テーマ(予定)
SERD (Sputter Etching Rate Data Base),バックグラウンド,
電子線照射損傷,有機物損傷,表面汚染炭化水素 |
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