第25回表面分析研究会プログラム

SASJ 10周年記念講演会
「VAMAS,ISOから標準化へ 今後の展望」

2005年3月3日(木)13:00〜3月4日(金)15:00
3月3日(木)
12:30〜13:00 研究会受付
13:00〜15:15 テーマ講演
「標準化の哲学」 後藤敬典(名古屋工業大学)
「標準化とは」 福島 整(物質・材料機構)
「ソフトウエアと標準化」 永富隆清(大阪大学)
「SERDプロジェクトと標準化」 新谷龍二(住金テクノ)
「電子線損傷の実際と標準化」 荒井正浩(住友金属)
15:15〜15:30 休憩
15:30〜17:00 パネルディスカッション 司会 鈴木峰晴(アルバック・ファイ)
パネラー(予定) 後藤敬典(名古屋工業大学)
田沼繁夫(物質・材料研究機構)
橋本 哲(JFEテクノ)
志智雄之(日産アーク)
柳内克昭(TDK)
18:00〜20:00 懇親会(SASJ 10周年記念パーティー)
3月4日(金)
9:00〜15:00 ISO報告・プロジェクト関連報告
「VAMASとSASJの関係」 田沼繁夫(物質・材料研究機構)
「デプスの標準化」 鈴木峰晴(アルバック・ファイ)
「EPMA,SEMにおける標準化」 木村 隆(物質・材料研究機構)
「有機物損傷の実際と標準化」 當麻 肇(日産アーク)
話題提供
「絶対CMAの透過率計測」 後藤敬典(名古屋工業大学)
「新SERDサーバの紹介」 井上雅彦(摂南大学)
「球面自己組織化マップ(SSOM)による
AES,XPSスペクトルのクラスタ分類」
徳高平蔵(SOMジャパン)
プロジェクト討議
テーマ(予定)
SERD (Sputter Etching Rate Data Base),バックグラウンド,
電子線照射損傷,有機物損傷,表面汚染炭化水素

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