第2部 「表面分析における表面電子励起現象」
２００４年３月８日（月）１３：００〜３月９日（火）１５：００
| ３月８日(月) | ||
| 12:30 | 研究会受付 | |
| 13:00 | 開会あいさつ およびテーマ講演趣旨説明研究会開催挨拶 |
柳内克昭(TDK) |
| 13:05〜15:05 | テーマ講演 第1部 「イオン・Ｘ線を用いた表面・界面分析の最前線」 (2件；講演50分+質疑10分) |
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| 1.「高分解能RBS法・ERD法の開発と応用」 | 木村健二 (京都大学) |
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| 2.「斜出射X線分析法の開発と応用」 | 辻 幸一 (大阪市大) |
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| ＜休憩(15分)＞ | ||
| 15:20〜17:20 | テーマ講演 第2部 「表面分析における表面電子励起現象」 (2件；講演20分+質疑10分) |
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| 3.「表面電子励起効果に関する研究の現状」 | 田沼繁夫 (物質・材料研究機構) |
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| 4.「SOR-XPS分析における表面電子励起」 | 鈴木峰晴 (アルバック・ファイ) |
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| (1件；講演50分+質疑10分) | ||
| 5.「バックグラウンド解析法による表面電子励起効果の推定」 | 永富隆清 (大阪大学) |
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| 18:00〜20:00 | 懇親会 | |
| ３月９日(火) | ||
| 9:00〜11:30 | プロジェクト討議 (発表資料作成を含む) |
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| ＜各自昼食(70分)＞ | ||
| 12:40〜13:10 | 実用電子分光講座 (1件；講演20分+質疑10分) |
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| ・「Seahの論文の解説」 | 鈴木峰晴 (アルバック・ファイ) |
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| 13:10〜14:10 | 話題提供 (3件；講演15分＋質疑 5分) |
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| 「光電子スペクトロホログラフィー装置を使った全反射XPS測定」 | 石井秀司 (京都大学) |
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| 「仕事関数測定によるδドープBN層深さ分析」 | 水原 譲 (大阪大学) |
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| 「X線定在波法によるSrTiO3結晶のサイト選択的XPS測定」 | 藤井達生 (岡山大学) |
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| 14:10〜14:50 | プロジェクト討議結果報告 | |
| 14:50〜14:55 | 連絡事項 | |
| 14:55〜15:00 | 閉会挨拶 | 田沼繁夫 (物質・材料研究機構) |
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