第２１回表面分析研究会プログラム（予定）
メインテーマ：「試料損傷」２００１年６月２３日（月）１３：００〜６月２４日（火）１５：００
| ６月２３日(月) | |||
| 9:00〜12:00 | 標準化作業部会 | (正式には研究会の行事ではありませんが、会員のオブザーバー参加が可能です。) | |
| 1.XPS/AESの強度軸安定性について 2.XPSのバックグラウンド評価について 3.XPS/AESの空間分解能について 4.XPSの帯電補償の記述について 5.その他 |
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| 12:30 | 研究会受付 | ||
| 13:00 | 研究会開催挨拶 | 講演委員長 | |
| 13:05 | Powell賞受賞記念講演 | ｢TFE-EPMAによるサブミクロン領域の評価｣（仮題） | 木村隆(ＮＩＭＳ) |
| 13:35 | テーマ講演 ｢試料損傷｣ |
(各講演20分程度) | |
| 1.SiO2/Si膜におけるにおける有効分解断面積の入射電子エネルギー依存性 | 田沼繁夫(ＮＩＭＳ) |
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| 2.XPSにおける有機物の損傷（仮題） | 當麻肇(日産アーク) | ||
| 3.イオン照射により酸化物のXPSスペクトルに現れる変化 | 橋本哲(鋼管計測) | ||
| 4.イオンスパッタリングによるInPの損傷について | 荻原俊弥(ＮＴＴ−ＡＴ) | ||
| 5.総合討論（30分） | |||
| 16:30 | 特別講演(1時間) | 「材料に入りて情報にテーマ移し，併せまとめて結果となせり」 | 徳高平蔵(鳥取大) |
| 18:00〜19:30 | 夕食 | ||
| 20:00 | チュートリアル |
IMFPの使い方 | 田沼繁夫(ＮＩＭＳ) |
| 21:30〜 | Free | ||
| ６月２４日(火) | |||
| 9:00 | 話題提供 | (2〜3件,各20分) | |
| ・仕事関数の各種計測法は何を測っているか？ | 後藤敬典(名工大) |
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| ・新しいカーボンナノワイヤの発見 - Carbon Nano Sprout - |
藤田大介(ＮＩＭＳ) |
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| ・他 | |||
| 10:00 | プロジェクト討議 | ||
| 〜昼食および発表資料作成〜 | |||
| 13:30 | プロジェクト討議結果報告 | ||
| 14:45 | その他連絡事項 | ||
| 閉会 |
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