Powell賞 (Powell Prize)
Powell賞は，米国NISTのC. J. Powell博士の名前にちなんで命名され，1995年から毎年PSA講演会のベストポスター発表者に授与されています．PSA参加者全員の投票によって，ベストポスターが決定されます． 2023年度実用表面分析講演会（PSA23）のポスターから投票で決定されたPowell賞は，株式会社キャタラー鈴木貴博さんらによるポスター発表「電池材料のXPS帯電補正手法検討」が選ばれました．
詳細は，
「掲示板 2023年度実用表面分析講演会（PSA-23）Powell賞」 JSA Vol.30, No.3 (2023) p.212 (https://doi.org/10.1384/jsa.30.212)
をご覧ください．
受賞者一覧
| 回 | 会合名 | 受賞者／所属 | 題目 |
|---|---|---|---|
| 第29回 | PSA-23 (Domestic) |
鈴木 貴博 キャタラー |
電池材料のXPS帯電補正手法検討 |
| 第28回 | PSA-22 (Domestic) |
眞田 則明 アルバック・ファイ |
再現性の良いXPSスペクトル面積解析 |
| 第27回 | PSA-21 (Domestic) |
寺島 雅弘 アルバック・ファイ |
AES化学状態マッピングに向けた全固体電池材料における電子線ダメージの検討 |
| 第26回 | PSA-20 (Domestic) |
渡會 健太 工学院大学 |
FIB-TOF-SIMSを用いた固体電解質粒子の劣化メカニズムの解明 |
| 第25回 | PSA-19 (International) |
Yue. Zhao Kogakuin University |
Changes of Calcium Distribution in Glue Ball of Spider's Orb-web under Low-temperature Stress |
| 第24回 | PSA-18 (Domestic) |
飯田 真一 アルバック・ファイ |
広立体角観察を可能にするTOF-SIMS用試料ホルダーの開発と実用化 |
| 第23回 | PSA-17 (Domestic) |
高橋 一真 成蹊大学 |
TOF-SIMSデータのImage fusion とピクセル削減による高感度評価 |
| 第22回 | PSA-16 (International) |
Sena Yang KRISS |
Nitrogen Doping Treatment as a Strategy for Increasing TiO2 Surface Defect Sites. |
| 第21回 | PSA-15 (Domestic) |
西田 真輔 古河電気工業 |
XPS定量グループの活動報告 - Wagnerの相対感度係数を支える経験知の議論- |
| 第20回 | PSA-14 (Domestic) |
松本 凌 米子工業高等専門学校 |
動的Shirley法によるXPSバックグラウンドの算定 |
| 第19回 | PSA-13 (International) |
M. Kubota TDK Corporation |
Depth Analysis of Ta/NiFe/Ta/CoFeB/Ta/NiFe Multilayer Thin Films: Comparison of Atom Probe Tomography and Auger Electron Spectroscopy |
| 第18回 | PSA-12 (Domestic) |
大西 美和 工学院大学 |
FIB-TOF-SIMSによるリチウム電池正極粒子表面の劣化物質の評価 |
| 第17回 | PSA-11 (Domestic) |
大友 晋哉 古河電気工業 |
電子線ホログラフィーを用いた化合物半導体中キャリア分布評価における試料加工表面ダメージの影響 |
| 第16回 | PSA-10 (International) |
Jong Shik Jang Korea Research Institute of Standards and Science |
P-type Si quantum dots/n-type crystalline Si solar cells and bimodal distribution of boron in Si/SiO2 nanostructures |
| 第15回 | PSA-09 (Domestic) |
荻原 俊弥 物質材料研究機構 |
半球型電子分光器を搭載したオージェ電子分光装置のジオメトリー特性と傾斜ホルダーを利用した超高深さ分解能オージェ深さ方向分析 |
| 第14回 | PSA-08 (Domestic) |
高野 みどり パナソニック エレクトロニック デバイス |
はんだ実装工程管理のためのAu表面Ni拡散量評価方法の検討 |
| 第13回 | PSA-07 (International) |
Adel Alkafri 名古屋工業大学 |
Thermionic Emission Characteristics by CMA for the Energy Calibration in AES and New Spectra |
| 第12回 | PSA-06 (Domestic) |
森 行正 日本ガイシ |
シリコン酸化物表面の電子線照射による分解挙動の研究 |
| 第11回 | PSA-05 (Domestic) |
福島 整 物質材料研究機構 |
電子線励起超軟Ｘ線分光分析装置による超軟Ｘ線スペクトルの観察 |
| 第10回 | PSA-04 (International) |
大川 和香子 TDK |
Application of High-Resolution Rutherford Backscattering Spectroscopy for Process Control of Data Storage And Thin Film Technology Components |
| 第9回 | PSA-03 (Domestic) |
阿部 芳巳 三菱化学科学技術 研究センター |
ToF-SIMSによる化学状態分析： CdSe半導体ナノ粒子薄膜の化学構造変化 |
| 第8回 | PSA-02 (Domestic) |
木村 隆 物質材料研究機構 |
フィールドエミッション銃を搭載した高分解能EPMAの開発 |
| 第7回 | PSA-01 (International) |
柳内 克昭 TDK |
Practical Procedure for Protecting Changes of Surface Condition in the Air |
| 第6回 | PSA-00 (Domestic) |
佐藤 史生 東北大学 |
XPS分析時における試料温度測定 |
| 第5回 | PSA-99 (Domestic) |
工藤 政都 JEOL |
走査型オージェ電子顕微鏡による仕事関数分布像の観察 |
| 第4回 | PSA-98 (International) |
鈴木 峰晴 NTT アドバンステクノロジ |
金属メッシュを使ったスパッタリング深さの計測方法 |
| 第3回 | PSA-97 (Domestic) |
尾山 貴司 村田製作所 |
非単色化Ｘ線源を用いたXPS測定時における面内上均一帯電の緩和法 |
| 第2回 | PSA-96 (Domestic) |
松田 秀幸 東北大学 |
試料内他元素XPSピークを用いたデコンボリューションによる第一遷移金属2pXPSスペクトルからのバックグラウンド除去 |
| 第1回 | PSA-95 (Domestic) |
麻生 明弘 ジャパンエナジー |
XPSによる高分子表面の吸着水測定 |