PSA-12（2012年10月11−12日）でのWG活動について
SASJ WG担当
永富隆清（大阪大学）
PSA-12においてもWG討議の時間を確保いたします．各WGの活動内容等についてはWG活動紹介のWebページで確認をお願いします．過去のWG討議での討議予定や討議に用いられた資料，機関誌（JSA: Journal of Surface Analysis)への報告記事などを閲覧できるようにしています．当日WG討議へ参加される場合は事前にご確認いただけますと幸いです．では，皆様のご参加をお待ちしております．
なお，各WGの討議予定は以下の通りです（随時更新します）．
- ◆SASJ-WG活動紹介
- こちらのページをご覧ください．
- ◆ToF-SIMS WG
- TOF-SIMS WGでは現在発足当時からのテーマである表面に存在する化学種の同定に必要な質量較正手順の標準化を目指し，これまで共有化してきたナレッジのまとめとしてのラウンドロビンテストを行っています．
次回のWG討議では，以下を予定しています．
1.上記ラウンドロビンテストの進捗報告と結果に対する議論
2.二次イオン種（えば二次イオンの不飽和度）と質量確度の関係についての調査報告と結果に対する議論
3.ナレッジの共有化の進め方（第18回SIMS国際会議 (SIMS-XVIII) のサテライト行事として行われた
“SIMS International School”で紹介された文献の勉強会）の調整
- ◆DP-WG
- 深さ分析WGでは，現在，高深さ分解能・高感度スパッタ深さ分析を実用レベルで実現することを目的とした活動を行っています．そのために，まず基本となる，イオンビームのアライメント方法について検討を行っています．
また，「界面」評価に関する実用的な定義作成を目指した活動も行っています．まず分析担当者の要望を把握するためのアンケートを実施し，現場の声を反映させた定義となるよう検討を行っています．
次回のWG討議では，以下を予定しています．
1.イオンガン調整の進捗
1-1.データ提出状況の報告
1-2.調整に関するQ&A
2.多層膜試料での深さ方向分析実施内容の検討
2-1.実験の概要説明
2-2.実験レシピの検討
3.MRIソフトに関して
- ◆XPS-WG
- XPS-WGではイオンスパッタ後表面の分析において「帯電」や「スパッタダメージ」をうけたスペクトルの変化などのために化学状態分析を行うことが困難になるという現状に対し，具体的な課題を抽出し，課題解決につながる取組を行っています．
現在、ダメージ低減化を目指したスパッタ方法として斜入射スパッタの検討を始めています．
次回WGでは以下の討議を予定しています．
1. 斜入射スパッタ実験経過報告
2. 実験のデータ処理について