目次　　JSA Vol.9 No.1 (2002) 1 - 148

巻頭言

Activities on Surface Analysis in Korea

国際シンポジウムプロシーディングス

New Trends and Possibilities of Surface Analysis
- Towards the Analysis of Nano-structured Materials -


AES and XPS analysis of nanowear and thin films
Possible Application of Appearance Potential Spectroscopy (APS) to Studies of Empty Electronic States, Short Range Ordering, and Work Function for Nano-Material Surfaces
Absolute Electron Energy Analyzer
Determination of the differential surface excitation parameter from experimental REELS data
Information on local electronic sturucture at surfaces and interfaces from analysis and interpretation of electron spectra
Surface Analysis of Compound Semiconductor Nano-structures by AFM and STM

解説

表面分析の国際標準化の現状 -ISOとVAMAS- ISO/TC２０１表面化学分析の現状と動向
-用語、一般的手順、データ管理及び取り扱い-
-深さ方向分析-
-オージェ電子分光法、X線光電子分光法-
-二次イオン質量分析法-
-GDSの国際標準化の背景・動向-

話題

ISOにおけるのエネルギー軸校正法
感度係数法による定量分析 -マトリクス補正法を越えるか-
Activity in SASJ toward Standardization

研究論文

AESによるSiO2/Si試料表面の電子線照射損傷評価
Development of Unique Specimen Holder for LEED-AES Study at High Temperatures
最適化された低エネルギー一次イオン照射下におけるTOF-SIMSサンプリング深さの極浅化
バイオ関連評価におけるTOF-SIMSの可能性

新技術紹介

X線光電子顕微鏡法（XPEEM）

テクニカルノート

表計算ソフトを用いたスペクトル処理

談話室

「スキルアップのための電子分光法講座」開催記
「第2回実用表面分析国際シンポジウムPSA-01」開催記

Errata
第4回SERDプロジェクト議事録
幹事会メンバーリスト
表面分析研究会会則
研究会メンバーID申請確認用紙
講演委員会運営規則
データベース委員会運営規則
編集委員会運営規則
データスペクトル投稿規定
スペクトルデータ投稿票
Journal of Surface Analysis 投稿規程
Journal of Surface Analysis 投稿票
Copyright transfer agreement
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