巻頭言
青春のノスタルジー？福田安生・・・・131
講義
COMPRO Version6 使用法吉原一紘・・・・132
研究論文
Characterization of Micro-Corrosion on Magnetic Recording Disks by ToF-SIMS and AASY. Abe, M. Shibayama, J. Sasahara, and J. Kozu・・・・148
Influence of Tilt Angle on Peak profile in AES Measurement of Insulator
Y. Ohtsuka and Inorganic Materials Group of SASJ・・・・155
Synthesis and Structure of Polymer/Metal Interfaces: a Convergence of Views between Theory and Experiment
C. Bureau and J. Delhalle・・・・159
Accurate Density Functional Calculation of Core XPS Spectra: Towards an Evidencing of Intermolecular Effects at Real Interfaces via XPS ?
C. Bureau, S. Kranias and D. P. Chong・・・・171
C 1s CEBEs of Hydrocarbons on Elemental Oxides. I. MO Caluculations using CH4 Model Molecules
T. Otsuka, C. Bureau, K. Endo, M. Suhara, and D. P. Chong・・・・181
Spectral Analysis of XPS of Diamond and Graphite by MO Calculations using Model Molecles
K. Endo, T. Morohashi, T. Otsuka, S. Koizumi, M. Suhara, and D. P. Chong・・・・186
技術報告
走査型プローブ顕微鏡のステージ改良と制御方法木村 昌弘・・・・191
EPMAによる多孔質試料および粉末試料の定量の検討
西尾 満章、田沼 繁夫・・・・197
XPSによる超高純度銅の表面酸化層中の酸素の分析
麻生 昭弘・・・・204
AES Depth-profileデータ処理方法の検討 -ファクターアナリシスと非負拘束付最小二乗法の比較-
北田隆行、原田朋子、田沼繁夫・・・・209
話題
電子分光法によるシリコン酸化物薄膜の物性評価柴田 肇、木村 眞次、高遠 秀尚・・・・223
シリコン酸化薄膜の膜厚評価について
黒河 明・・・・226
スパッタエッチングレートデータベース構築計画
井上 雅彦・・・・228
金属メッシュを使ったスパッタリング深さの計測方法
茂木 カデナ、鈴木 峰晴・・・・230
材料別分科会報告
材料別分科会幹事・・・・231
談話室
IUVSTA Workshop "XPS: from Physics to Data"報告河合 潤・・・・235
書評
Advanced in Quantum Chemistry Vol. 29 - electronic structure of clusters - Editor-in-chief: P. O. Lowdin, Editor: J. R. Sabin, M. C. Zerner, E. Brandas, L. Kover, J, Kawai, and H. Adachi, Academic Press, 1997, ISBN: 0-12-034829-2吉武 道子・・・・236
議事録
第１０回データベース委員会・・・・・・・・・・・・238
第１３回有機材料分科会
・・・・・・・・・・・・239
第１３回金属材料分科会
・・・・・・・・・・・・240
第１３回電子材料分科会
・・・・・・・・・・・・241
表面分析研究会会則
・・・・・・・・・・・・242
講演委員会運営規則
・・・・・・・・・・・・244
データベース委員会運営規則
・・・・・・・・・・・・245
編集委員会運営規則
・・・・・・・・・・・・246
データスペクトル投稿規定（案）
・・・・・・・・・・・・247
Journal of Surface Analysis 投稿規定
・・・・・・・・・・・・250