巻頭言
To Continue the CollaborationD. W. Moon・・・・1
講義
The Basis of Electron Spectroscopy for SurfaceJ. T. Grant・・・・2
Practical Aspects of Charge Compensation in X-ray Photoelectron Spectroscopy
J. E. Fulghum・・・・13
電子ビーム照射に伴う絶縁物試料の帯電現象の時間的変化
小寺正敏・・・・22
研究論文
Quantification of dimer (Al2+, Ga2+) SIMS Depth profiles of a GaAs/AlAs Multilayer Structure using the MRI-modelA. Rar, D. W. Moon, and S. Hofmann・・・・29
Evaluation of SIMS depth resolution with Delta Multi-layer Reference Materials
D. W. Moon and K. J. Kim・・・・34
Study of Electron Beam Irradiation Damage Factor for SiO2 Films
M. Nakamura and Electronic Mterials Group of SASJ・・・・38
Core Level and Auger Line Shifts in CoPt Alloys
Y. S. Lee, K. Y. Lim, Y. D. Chung, H. J. Kang, and C. N. Whang・・・・45
Studies of Polystyrenes Using Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry
Y. Lee, S. Han, J.-H. Yoon, H. Lim, and J. Cho・・・・50
Surface Damage of Organic Materials during XPS Analysis (3)
K. Endo, S. Maeda, H. Miura, K. Ohmori, K. Miura, H. Tohma, T. Maruyama, and Organic Materials Group of SASJ・・・・54
A Method of Evaluating Sample Damage in XPS using Nitrocellulose as a Standard for Organic Materials
T. Maruyama, N. Suzuki, H. Tohma, K. Miura, and Organic Materials Group of SASJ・・・・59
Surface Characterization of Organic Electroluminescent Thin Film Materials
J. W. Lee, T. H. Kim, S. H. Kim, and S. T. Kim・・・・66
技術報告
The "Spectral Data Processor" for Windows 3.1, 95, 98, NT or OS/2 and The "SpecMaster Pro" Digital Database System of 35,000 XPS SpectraB. V. Crist・・・・71
Reference Materials Used in My Laboratory
M. Furuya・・・・77
COMPRO Version 6の紹介
吉原一紘・・・・82
話題
Chemical Analysis of XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) Data using Self-Organising MapsK. Obu-cann, H. Tokutaka, K. Fujimura, K. Yoshihara, and Metal Materials Group of SASJ・・・・85
磁場レンズを用いたチャージニュートラライザーとその効果
高橋和裕・・・・87
低エネルギーイオン照射によるオージェ電子分光時の帯電中和効果
岩井秀夫・・・・90
談話室
ネットワーク討論SASJ編集委員会・・・・92
掲示板
Looking Back to a Great ExperienceS. Hofmann・・・・96
PSA-98 International Symposium on Practical Surface Analysis開催記
・・・・・・・・・・・・98
2-nd Korea-Japan International Symposium on Surface Analysis "Practical Analysis and Standardization" 報告
・・・・・・・・・・・・100
議事録
第８，９回データベース委員会・・・・・・・・・・・・102
第１２回有機材料分科会
・・・・・・・・・・・・103
第１２回無機材料分科会
・・・・・・・・・・・・104
第１２回金属材料分科会
・・・・・・・・・・・・105
第１２回電子材料分科会
・・・・・・・・・・・・107
Journal of Surface Analysis 投稿規定
・・・・・・・・・・・・114
Journal of Surface Analysis 第４巻著者索引・総目次
・・・・・・・・・・・・121