巻頭言
表面分析研究会の目指すもの一村信吾・・・・533
講義：実用電子分光法講座
ＸＰＳバックグラウンド処埋から見た電子のエネルギー損失関数城昌利・・・・534
解説
自己組織化（ＳＯＭ）の化学分析データへの応用とＳＯＭの周辺徳高平蔵・・・・545
研究論文第３回Powell賞受賞記念論文
非単色化Ｘ線源を用いたＸＰＳ測定時における面内不均一帯電の緩和法尾山貴司，西澤真士，山本宏・・・・558
ＸＰＳスペクトルのエネルギー軸較正方法の検討
堂前和彦，三浦薫，笹川薫，中村誠，丸山達哉，志智雄之，関根哲・・・・565
ＸＰＳスペクトルの強度軸較正方法の検討
名越正泰，志智雄之，丸山達哉，笹川蘇，中村誠，堂前和彦，三浦薫，田中彰博・・・・573
ＡＥＳスペクトルのエネルギー軸較正方法の検討
鈴木峰晴，丸山達哉，大塚芳郎，小泉光生，名越正泰，関根哲・・・・589
ＡＥＳ定性分析の正解度向上の試み
長塚義隆，吉田康二，長沢勇二，鈴見純・・・・602
Time-of-flight Secondary Ion Mass Spectrometry of Oxide Layers Formed on the Surface of Silicon steels
S.Suzuki,M.Totsu,T.Hoshi,H.Iwai,and Y.Waseda・・・・612
Simulation Data of Valence XPS of Polymers by MO Calculations Using the Model Molecules I.Hydrocarbon-Polymers and Polymers containing,O-,CO-,and OCO-Groups
Kazunaka Endo and Delano P.Chong・・・・618
Formation Mechanism of Indium Microcrystals on Ion-Bombarded InP Surfaces
Y.Homma・・・・641
技術報告
イオンスパッタリング後のＩｎＰ，IｎＳｂ，IｎＡｓ表面のＳＥＭ観察荻原俊弥，吉田公一，田沼繁夫・・・・646
イオンスパッタリングと表面組成変化
黒河明・・・・653
活性種を用いたスバッタリング
井上雅彦，李畑益，志水隆一・・・・659
収束イオンビームを用いたスパッタリング
関根哲，坂口清志，加無木大助・・・・664
技術資料
スペクトルデータベース登録用フォーマットのパラメータ記述のための手引書（改訂版）野々上寛，データペース委員会・・・・670
用語解説
SI単位小島勇夫・・・・679
話題
装置の状態がオージェスペクトルのエネルギー軸，強度軸に及ぼす影響加藤美紀子，名越正泰・・・・682
自己組織化マップ（ＳＯＭ）による合金組成の決定とスペクトル同定
徳高平蔵・・・・684
Can hydrogen be observed in an energy analysys?
K.Goto・・・・685
Auger electron spectra of alloys and synthesized:Fe-Ni's
K.Goto・・・・686
内殻電子スペクトルの多電子効果について
河合潤・・・・687
感度係数の背景
田中彰博，鈴木昇・・・・699
談話室
ネットワーク討論ＳＡＳＪ編集委員会・・・・704
掲示板
メールグループＳＡＳＪを利用するには福島整・・・・713
PSA-97・Powell Prize・「局所・微量分析の進展」シンポジウム報告
・・・・・・・・・・・・721
議事録
第８回有機材料分科会，第９回有機材料分科会・・・・・・・・・・・・723
第８回無機材料分科会，第９回無機材料分科会
・・・・・・・・・・・・725
第８回金属材料分科会，第９回金属材料分科会
・・・・・・・・・・・・726
第８回電子材料分科会，第９回電子材料分科会，電子材料 ad-hoc ミーティング
・・・・・・・・・・・・728
第４回データベース委員会，第５回データベース委員会
・・・・・・・・・・・・734
表面分析研究会会則
・・・・・・・・・・・・737
Journal of Surface Analysis 投稿規定
・・・・・・・・・・・・738
Journal of Surface Analysis 第２巻著者索引・総目次
・・・・・・・・・・・・745