巻頭言
口伝から標準化へ吉原一紘・・・・1
新春座談会
「一通の開催通知」をめぐって・・・・・・・・・・・・2
講義：実用電子分光法講座
微分フィルターってなんだ福島整・・・・11
研究論文および技術報告
Ｘ線光電子分光法における弾性散乱効果を含む定量分析法 有効非弾性平均自由行程を用いた定量法の定式化田沼繁夫・・・・27
イオンスパッタリングによるＩｎＰ表面の組成変化のオージェ分析法を用いた検討
茂木カデナ，増田みゆき，鈴木峰晴・・・・33
シリコン熱酸化膜の照射損傷
閔敬烈,中村誠,吉原一紘,電子材料分科会・・・・39
ＸＰＳによるＣｕ／ゼオライトの照射損傷
堂前和彦・・・・45
PHI-ACCESSソフトウェアにおける微分の方法 オージェ電子分光法における数値微分演算
田中彰博・・・・48
界面評価パラメータとして用いられる深さ分解能の現状の問題点
荻原俊弥・・・・55
低速中性粒子スパッタ法と化学エッチング法によるＸ線光電子分光法における高分子化合物の深さ方向分析
飯島善時・・・・62
ＳＩＭＳによるDepth Profiling
森田弘洋，吉岡芳明・・・・72
技術資料
深さ方向分析に関するアンケート調査結果鈴木峰晴，荻原俊弥・・・・83
イオンスパッタリング法による深さ方向分析の問題点
小泉光生・・・・88
スペクトルデータ登録用共通フォーマットのパラメータ記述のための手引き書(改訂版)
吉武道子,データベース委員会・・・・91
スペクトルデータ提出フォーム(改訂版)
野々上寛,児島淳子,データベース委員会・・・・102
Surface Chemical Analysis-Information Formats(Comitee Draft Version)
K. Yoshihara・・・・112
レファレンスマテリアルに係わるアンケート 集計結果速報
一村信吾，三浦薫・・・・123
超格子標準物質の開発計画
小島勇夫，高谷晴生・・・・126
Development of Standard Materials for Surface Analysis in KRISS
Hoong-Sun Im,Kyong Joong Kim, Hyun Kyong Kim,and Dae Won Moon・・・・128
インターネットによる Kermit情報
古川洋一郎・・・・134
話題
一通の開催通知吉原一紘・・・・138