巻頭言
信頼性向上と標準化に役立つ表面分析研究会牧野 久雄・・・・ 1
解説
新しいキログラム定義を支える表面分析 ― 高純度濃縮Si単結晶球体表面のXPS分析によるアプローチ ―張 ルウルウ・・・・ 2
研究論文
光電子収量分光（PYS）スペクトルからの自動閾値推定 ― 残差分析による自動分析範囲の推定 ―柳生 進二郎，吉武 道子・・・・ 15
技術報告
マテリアルキュレーション?支援システムの開発吉武 道子，佐藤 文孝，河野 洋行・・・・ 22
LEIPSおよびUPSを用いた有機EL材料のバンド構造評価
寺島 雅弘，宮山卓也，白尾 徹郎，Hin Wai Mo，波多江 泰裕，藤本 弘，渡邉 勝己・・・・ 34
連載
表面化学分析に関わる用語解説（TASSAのたまご）第7回標準化活動部会・・・・ 45
掲示板
第68回 幹事会議事録・・・・ 49
2020年度 表面分析研究会組織表
・・・・ 51
講演委員会運営規則
・・・・ 52
編集委員会運営規則
・・・・ 54
標準化活動部会運営規則
・・・・ 55
表面分析士認定規定
・・・・ 56
表面分析士申請書
・・・・ 59
投稿規程
・・・・ 62
投稿票
・・・・ 67
Copyright Transfer Agreement
・・・・ 69
JSA定期購読申込用紙
・・・・ 72
JSAバックナンバー申込用紙
・・・・ 74
編集後記
・・・・ 76