巻頭言
実用表面には深さがある鈴木 昇・・・・ 1
解説
材料情報の多面的利用吉武 道子・・・・ 2
研究論文
Investigation of Sample Deformation in Laser-Assisted Atom Probe TomographyYun Kim and Masanori Owari・・・・ 9
極低角度入射イオンビームを用いたオージェ深さ方向分析によるFeNi/CoFeB/FeNi多層薄膜の分析
荻原 俊弥，柳内 克昭，吉川 英樹・・・・ 14
エクステンディッドアブストラクト
電子分光を用いたインジウム・亜鉛酸化物薄膜の電子状態解析安居 麻美，小川 慎吾・・・・ 21
XPSにおける深さ方向分析の新しい展開
富塚 仁，町田 雅武，大岩 烈・・・・ 25
走査型透過X線顕微鏡（STXM）による高分子材料の局所構造解析
菊間 淳，風間 美里, 梅本 大樹, 武市 泰男・・・・ 34
蛍光収量法による軟X線XAFSの表面分析の可能性
――分析深さ，自己吸収効果とその対応について
薄木 智亮，伊藤 亜希子, 安達 丈晴, 速水 弘子, 山中 恵介・・・・ 37
軟X線XAFSによる動作中蓄電池への応用と課題
中西 康次・・・・ 39
談話室
21st International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry（SIMS XXI）の参加報告堀 祐臣・・・・43
掲示板
第5回SASJ若手研究会 議事録20代，30代を中心としたSASJ若手研究会・・・・ 48
第63回 幹事会議事録
・・・・ 51
2018年度 表面分析研究会組織表
・・・・ 54
講演委員会運営規則
・・・・ 55
編集委員会運営規則
・・・・ 57
標準化活動部会運営規則
・・・・ 58
表面分析士認定規定
・・・・ 59
表面分析士申請書
・・・・ 62
投稿規程
・・・・ 65
投稿票
・・・・ 69
Copyright Transfer Agreement
・・・・ 71
JSA定期購読申込用紙
・・・・ 76
JSAバックナンバー申込用紙
・・・・ 76
編集後記
・・・・ 78