巻頭言
ISOの活用を小島 勇夫・・・・ 1
解説
COMPRO12の使用法（1）吉原 一紘・・・・ 2
マススペクトルのデータベースMassBankが世界標準になるまで
西岡 孝明・・・・ 25
技術報告
初期端点の自動調整機能を付加したactive Shirley法によるXPSバックグラウンドの自動推定西澤 侑吾，松本 凌，片岡 範行，田中 博美，吉川 英樹，田沼 繁夫，吉原 一紘・・・・ 36
XPS分析のためのAr-GCIBによる表面クリーニング条件の検討
三井所 亜子，稲葉 雅之・・・・ 47
エクステンディッドアブストラクト
微小角入射X線回折法による窒化物半導体表面の構造解析討本谷 宗，倉橋 健一，上原 康・・・・ 56
Q&A
「J. Surf. Anal. 21, 2 (2014)」に対する疑問鈴木 峰晴・・・・ 61
「J. Surf. Anal. 21, 2 (2014)に対する疑問」への回答
奥村 洋史，峰 和久・・・・ 62
談話室
JASISコンファレンス2017『初心者のための実用表面分析講座 分析現場ですぐに役立つ表面分析のノウハウと知識』での質疑応答の紹介永富 隆清・・・・64
掲示板
第49回表面分析研究会報告 「光電子分光を使った無機／有機誘電体の化学状態及び電子状態解析」・・・・ 67
第4回SASJ若手研究会議事録
20代，30代を中心としたSASJ若手研究会・・・・ 72
第61回 幹事会議事録
・・・・ 77
2017年度 表面分析研究会組織表
・・・・ 79
講演委員会運営規則
・・・・ 80
編集委員会運営規則
・・・・ 82
標準化活動部会運営規則
・・・・ 83
表面分析士認定規定
・・・・ 84
表面分析士申請書
・・・・ 87
投稿規程
・・・・ 90
投稿票
・・・・ 94
Copyright Transfer Agreement
・・・・ 96
JSA定期購読申込用紙
・・・・ 99
JSAバックナンバー申込用紙
・・・・ 101
編集後記
・・・・ 103