巻頭言
「分析遍歴」笹川 薫・・・・154
解説
動的Shirley 法によるXPS スペクトルのバックグラウンド自動推定と定量分析松本 凌，西澤 侑吾，片岡 範行，田中 博美，吉川 英樹，田沼繁夫，吉原一紘・・・・155
談話室
「再現性」の大切さ福田 安生・・・・168
掲示板
第2回SASJ若手研究会議事録20代，30代を中心としたSASJ若手研究会・・・・170
2015年度実用表面分析講演会（PSA15）におけるDepth Profiling WG議事録
Depth Profilingワーキンググループ・・・・173
2015年度実用表面分析講演会（PSA15）におけるXPS-WGスペクトルデータベースグループ議事録
XPSワーキンググループ・・・・175
2015年度実用表面分析講演会（PSA15）におけるXPS-WG定量グループ議事録
XPSワーキンググループ・・・・177
XPS 定量WG 第1回RSF研究報告会議事録
XPSワーキンググループ・・・・180
XPS 定量WG 第2回RSF研究報告会議事録
XPSワーキンググループ・・・・184
ToF-SIMS WG アドホックミーティング議事録
ToF-SIMSワーキンググループ・・・・186
第57回幹事会議事録
・・・・・・・・・・189
第58回幹事会議事録
・・・・・・・・・・192
投稿規程
・・・・・・・・・・・・196
投稿票
・・・・・・・・・・・・200
Copyright Transfer Agreement
・・・・・・・・・・・・202
JSA定期購読申込用紙
・・・・・・・・・・・・205
JSAバックナンバー申込用紙
・・・・・・・・・・・・207
編集後記
・・・・・・・・・・・・209
2015年度実用表面分析講演会PSA-15講演資料
極低角度入射ビームオージェ深さ方向分析法の実用化に関する検討荻原 俊弥，吉川 英樹・・・・A-73
表面分析のためのレーザー脱離イオン化イメージング質量分析の検討
佐藤 貴弥，新美 大伸，菊地 真樹，藤井 麻樹子，瀬木 利夫，松尾 二郎・・・・A-74
めっき腐食生成物のXAFS による評価
杉山 信之，吉田 陽子， 杉本 貴紀，中尾 俊章，小林 弘明，村井 崇章・・・・A-75
FIB-TOF-SIMS による有機・無機材料の分析
飯田 真一，宮山 卓也・・・・A-76
XPS 定量グループの活動報告- Wagner の相対感度係数を支える経験知の議論
西田 真輔，岩瀬 鋭二良，大村 和世，景山 大輝，島尾 昌幸，速水 弘子，安野 聡，岡島 康雄・・・・A-77
全方位イオンビーム形状測定法の開発
田中 彰博，高野 みどり・・・・A-78
TOF-SIMS WG 活動報告 TOF-SIMS の質量軸較正法に関するラウンドロビンテスト（RRT13）報告
伊藤 博人，小林 大介，青柳 里果，TOF-SIMS WG・・・・A-79
硬X 線光電子分光法における光電子の有効減衰長の評価
安野 聡，小金澤 智之・・・・A-80
Super Extended Mermin Method for Calculating Electron Inelastic Mean Free Path
Bo Da, H. Yoshikawa, and S. Tanuma・・・・A-81
XPS スペクトルデータベースWG 進捗報告
薗林 豊，吉川 英樹，高野 みどり，渡部 大介，田中 博美，陰地 宏，勝見 百合，木村 昌弘，吉原 一紘・・・・A-82
Al-Cu 接合試料の SEM像コントラストと二次電子スペクトルの関係について
荻原 俊弥, 吉川 英樹・・・・A-83
オージェ分析を用いたCuZn 合金の定量分析の検討
山内康生，吉川 裕輔・・・・A-84
固体表面からの二次電子生成について3 −前回未発表分/質問対応−
永富 隆清・・・・A-85
Inelastic Mean Free Paths, Mean Escape Depths, and Effective Attenuation Lengths for Surface Electron Spectroscopies. I
S. Tanuma, K. Goto, H. Yoshikawa, C. J. Powell, D. R. Penn, B. Da, R. Ueda and H. Shinotsuka・・・・A-94
化学分析の定量値と不確かさ
川田 哲・・・・A-102
Wagnerの相対感度係数を用いた定量
岡島 康雄・・・・A-104
電子分光法による定量の基礎 −ISO18118/JIS K 0167 に基づいて−
永富 隆清・・・・A-108