巻頭言
装置／手法をまたぐデータの共有と融合から見えてくるもの吉武 道子・・・・1
－20周年記念行事小特集－
解説
標準化の軌跡吉原 一紘・・・・2
談話室
SASJ設立20周年記念講演会開催記柳内 克昭・・・・11
掲示板
20代，30代を中心としたSASJ若手研究会 議事録20代，30代を中心としたSASJ若手研究会・・・・16
技術報告
Global Ionizing Radiation Monitoring Networkの構築‐CsI(Tl) / PDからSrI2(Eu) / MPPCへ‐永井 滋一，河村 憲，木村 吉秀，志水 隆一，吉井 淳治，池田 練造，
竹内 宣博，太田 朗生，酒井 昭宏，杉山 誠，柳田 由香，鈴木 敏和・・・・21
カーボンナノチューブ繊維構造体を用いた分析試料固定
湯峯 卓哉，前野 洋平・・・・31
解説
多変量解析を用いたToF-SIMSスペクトル解釈横山 有太，青柳 里果・・・・37
掲示板
第44回研究会 XPS WG議事録XPSワーキンググループ・・・・50
第44回研究会 Depth Profiling WG議事録
Depth Profilingワーキンググループ・・・・55
第44回研究会におけるToF-SIMS WG活動
草間 一徳，ToF-SIMSワーキンググループ・・・・57
ToF-SIMS WGアドホックミーティング議事録
伊藤 博人，ToF-SIMSワーキンググループ・・・・58
第56回 表面分析研究会幹事会議事録
・・・・・・・・・・・・59
講演委員会運営規則
・・・・・・・・・・・・63
編集委員会運営規則
・・・・・・・・・・・・65
標準化活動部会運営規則
・・・・・・・・・・・・66
投稿規程
・・・・・・・・・・・・67
投稿票
・・・・・・・・・・・・70
Copyright Transfer Agreement
・・・・・・・・・・・・73
JSA定期購読申込用紙
・・・・・・・・・・・・76
JSAバックナンバー申込用紙
・・・・・・・・・・・・78
編集後記
・・・・・・・・・・・・80
表面分析研究会 設立20周年記念講演会 第44回研究会 講演資料
標準化の軌跡吉原 一紘隆・・・・A-1
Surface Analysis and its Extension to Nano-Bio Analysis
Dae Won Moon・・・・A-7
Interactions between Ar Ion / Cluster Ion Beam and Solid Surface for Practical Surface Chemical Analysis
Hee Jae Kang・・・・A-8
表面分析の絶対計測への道：絶対オージェスペクトル装置設計および絶対二次電子収量計測まで
後藤 敬典・・・・A-9
複合解析技術による原子レベルキャラクタリゼーションの製造プロセスへの適用
柳内 克昭・・・・A-10
表面定量分析の標準化の現状と課題：物理データベースからシミュレータへ
田沼 繁夫・・・・A-18
ナノテク国際標準化の動きと日本の対応 －COMS-NANO活動－
一村 信吾・・・・A-21
Standardization for Practical Surface Analysis in Korea
Kyung Joong Kim・・・・A-24
Band Alignment and Chemical Composition at Buffer Layers/CIGS Solar-Cell Heterojunction
Tae Gun Kim, Jae-Hyung Wi, Dae-Hyung Cho, Yong-Duck Chung, Jeong Won Kim・・・・A-25
動的Shirley 法を用いたXPS スペクトルのバックグラウンドの自動推定と定量分析の安定化
松本 凌，西澤 侑吾，田中 博美，吉川 英樹，田沼 繁夫，吉原 一紘・・・・A-26
極微量Bの機器分析用標準資料の創製と検量線の作成
目黒 奨，木村 隆，中村照美，邱 海，川田 哲, 西尾 満章, 津﨑 兼彰・・・・A-32