巻頭言
旅はまだ終わらない吉原 一紘・・・・111
技術報告
TOF-SIMSによる有機材料のAr-GCIB切削断面観察飯田 真一・・・・112
解説
SPring-8ビームラインBL46XUにおける硬X線光電子分光（HAXPES)陰地 宏, 崔 芸涛, 孫 珍永, 松本 拓也, 小金澤 智之, 安野 聡・・・・121
連載（講義）
Common Data Processing System Version 10の使用法―（7）多変量解析 ―吉原 一紘・・・・130
掲示板
2014年度実用表面分析講演会(PSA14)におけるToF-SIMS WG活動梶原 靖子，ToF-SIMSワーキンググループ・・・・135
2014年度実用表面分析講演会(PSA14)におけるXPS WG議事録
XPSワーキンググループ・・・・137
2014年度実用表面分析講演会(PSA14)におけるDepth Profiling WG議事録
Depth Profilingワーキンググループ・・・・140
第55回 表面分析研究会幹事会議事録
・・・・・・・・・・・・143
投稿規程
・・・・・・・・・・・・146
投稿票
・・・・・・・・・・・・150
Copyright Transfer Agreement
・・・・・・・・・・・・152
JSA定期購読申込用紙
・・・・・・・・・・・・155
JSAバックナンバー申込用紙
・・・・・・・・・・・・157
編集後記
・・・・・・・・・・・・159
2014年度実用表面分析講演会(PSA14) 講演資料
その場観察を利用したセラミックスによるヘマタイト還元解析石川 信博、木村 隆、水谷 拓人、竹口 雅樹、稲見 隆・・・・A-103
カーボンナノチューブ繊維構造体を用いた分析試料固定
湯峯 卓哉，前野 洋平・・・・A-104
新しい原理による回転電場型質量分析器の開発とその評価
鈴木 将人，穴井 勇希，野島 雅，堀田 昌直，足立 達哉・・・・A-105
Laser-SNMS 分析で視るスパッタ中性粒子の挙動
石川 丈晴，長嶋 悟，柏木 隆宏・・・・A-106
文化財科学のためのTOF-SIMS 分析の試み−糊として用いられる膠について
樋口 智寛，二宮 修治・・・・A-107
TOF-SIMS データを用いたGFRP 内部における低分子量PC の分布状態の解析方法の検討
梶原 靖子，長島 広光，長井 聡，青柳 里果・・・・A-108
異なる多変量解析手法を用いた高分子試料のToF-SIMS データ解析
横山 有太，岩井 秀夫，青柳 里果・・・・A-109
多変量解析によるXPSデータの解析
齋藤 健・・・・A-110
XPS スペクトルデータベース構築のXPS WG 活動報告
吉川 英樹，高野 みどり，渡部 大介，薗林 豊，田中 博美，陰地 宏，勝見 百合，木村 昌弘，吉原 一紘・・・・A-111
動的Shirley 法を用いたXPS バックグラウンドの算定
松本 凌，西澤 侑吾，田中 博美，吉川 英樹，田沼 繁夫，吉原 一紘・・・・A-112
スパッタ深さ分析におけるサンプルステージの傾斜角と回転角の誤差がイオン入射角に与える影響
松村 純宏・・・・A-113
試料冷却を用いたオージェ深さ方向分析の基礎的検討
荻原 俊弥，吉川 英樹，田沼 繁夫・・・・A-114
硬X 線光電子分光法におけるNi 薄膜の光電子有効減衰長の評価
安野 聡，陰地 宏，小金澤 智之・・・・A-115
二次電子分光法による全固体Li イオン二次電池の表面電位計測
朴 商云，井上 雅彦・・・・A-116
モンテカルロシミュレーションを用いた二次電子収率によるRuO2/Ru の酸化膜厚推定の試み
植垣 悠馬，山口 義和，井上 雅彦・・・・A-117
二次電子放出を考えてみよう！
永富 隆清・・・・A-118
固体表面からの二次電子生成について2
永富 隆清・・・・A-119
日本顕微鏡学会 SEMの物理学分科会 活動紹介
安田 雅昭・・・・A-120
SPring-8 産業利用専用ビームラインBL46XU における硬 X 線光電子分光（HAXPES）
陰地 宏，崔 芸涛，孫 珍永，松本 拓也，小金澤 智之，安野 聡・・・・A-121
硬Ｘ線・軟Ｘ線ダブル線源光電子分光装置によるZnO透明導電膜の評価
牧野 久雄・・・・A-129
放射光HAXPES と実験室HAXPES を利用した物理解析の応用と今後の展開
佐瀬 輝彦，佐藤 暢高・・・・A-133