巻頭言
「ご存じですか？」田沼 繁夫・・・・1
研究論文
Auger Electron Spectroscopy Analysis of W diffused from WC Grain into Co Regions in Cutting ToolsHiroshi Okumura and Kazuhisa Mine・・・・2
講義
クラスター分析の概要吉原 一紘，徳高 平蔵・・・・10
連載（講義）
Common Data Processing System Version 10の使用法―（５）装置校正 ―吉原 一紘・・・・18
掲示板
第42回表面分析研究会におけるToF-SIMS WG活動伊藤 博人，ToF-SIMSワーキンググループ・・・・25
第42回表面分析研究会におけるXPS WG活動
XPSワーキンググループ・・・・26
第42回表面分析研究会Depth Profiling WG討議 議事録
Depth Profilingワーキンググループ・・・・28
JSA誌に投稿をお考えの方へのお願い
吉川 英樹・・・・30
第53回 表面分析研究会幹事会議事録
・・・・・・・・・・・・31
2013年度 講演委員会議事録
・・・・・・・・・・・・33
2013年度 編集委員会議事録
・・・・・・・・・・・・35
2014年度 表面分析研究会組織表
・・・・・・・・・・・・37
講演委員会運営規則
・・・・・・・・・・・・38
編集委員会運営規則
・・・・・・・・・・・・40
投稿規程
・・・・・・・・・・・・41
投稿票
・・・・・・・・・・・・45
Copyright Transfer Agreement
・・・・・・・・・・・・47
JSA定期購読申込用紙
・・・・・・・・・・・・50
JSAバックナンバー申込用紙
・・・・・・・・・・・・52
編集後記
・・・・・・・・・・・・54
第42回表面分析研究会 講演資料
（PSA-13 Powell賞受賞記念講演）３次元アトムプローブ法とオージェ電子分光法による多層薄膜の深さ方向分析
久保田 真樹，石田 洋一，柳内 克明，清水 康雄，高見 澤悠，野沢 康子，外山 健，海老澤 直樹，井上 耕治，永井 康介
・・・・A-1
PSA-13 Powell賞受賞ポスター紹介）
TEM観察によるフォスファチジルコリン(PC)から成るリポソームとAuナノ粒子の吸着反応に関する研究
塚田 千恵，辻 琢磨，松尾 光一，行木 啓記，吉田 朋子，八木 伸也・・・・A-4
Advanced Quantitative Chemical State Analysis by Higher Energy-resolution Auger Spectra
堤 建一，田中 章泰，島 政英，田澤 豊彦・・・・A-5
Auger Electron Spectroscopy Analysis of W diffused from WC Grain into Co Region in Cutting Tools
奥村 洋史・・・・A-6
コロナ放電処理によるガラス表面へのホログラム形成メカニズム
小林 大介・・・・A-7
（一般講演）
帯電水滴エッチングによる金属・ポリマー多層膜の分析
境 悠治・・・・A-8
Auger electron spectral analysis of 2nd periodic atom
遠藤 一央，櫻本 和弘，佐藤 佑哉，阿久津 恵子，末影 正博，島 賢吾・・・・A-11
動的Shirley法によるXPSバックグラウンド除去の全自動化とCOMPROへの組み込み
松本 凌，荒木 優一，田中 博美，吉川 英樹，田沼 繁夫，吉原 一紘・・・・A-15
COMPROに追加するAES標準スペクトル；Al2O3 (Sapphia), Diamond (natural), Fe (R.Robin),Ga (liquid), GaAs(p), Mica, MoS2, Pb, SiO2 (100 nm on Si), SiO2 (Quartz), TiO2(11O), ZnO
後藤 敬典，吉原 一紘，山内 幸彦・・・・A-27
一度のSOM学習でOK，データ要素間の有意度算出法の新提案−アヤメデータ，
Tof-SIMSデータを用いて−
徳高 平蔵・・・・A-31
データフォーマット検討ワーキンググループの活動報告
吉川 英樹，データフォーマット検討ワーキンググループ・・・・A-41
国際標準化の基礎：制定の手続きと表面分析への展開
田沼 繁夫，岩井 秀夫，VAMAS-TWA2対応委員会，表面分析研究部会・・・・A-53