巻頭言
「道具の進化」高橋 和裕・・・・1
研究論文
外部汚染成分などが共存するPEG･PMA 混合試料のTOF-SIMS データに対する多変量解析の適用梶原 靖子，青柳 里果・・・・2
講義
ダイヤモンドライクカーボン（DLC）膜のナノ機械特性評価三宅 正二郎・・・・8
反射EELS によるDLC の結合状態の評価
横溝 臣智・・・・18
X 線光電子分光法によるダイヤモンドライクカーボン薄膜の表面化学構造解析
鷹林 将，高萩 隆行・・・・25
連載（講義）
Common Data Processing System Version 10 の使用法―（３）データ処理（その２） ―吉原 一紘・・・・55
掲示板
70th IUVSTA Workshop for Surface Analysis and Standardization 2013 (iSAS-13) 開催報告永富 隆清・・・・62
第40 回表面分析研究会でのWG 活動の報告
永富 隆清・・・・76
第40 回表面分析研究会におけるToF-SIMS WG 活動
梶原 靖子，ToF-SIMS ワーキンググループ・・・・77
第40 回表面分析研究会XPS ワーキンググループ議事録
XPS ワーキンググループ・・・・79
第40 回表面分析研究会Depth Profiling WG 討議議事録
Depth Profiling ワーキンググループ・・・・80
第51 回表面分析研究会幹事会議事録
・・・・・・・・・・・・82
投稿規程
・・・・・・・・・・・・84
投稿票
・・・・・・・・・・・・88
Copyright Transfer Agreement
・・・・・・・・・・・・90
JSA定期購読申込用紙
・・・・・・・・・・・・93
JSAバックナンバー申込用紙
・・・・・・・・・・・・95
編集後記
・・・・・・・・・・・・97
第40 回表面分析研究会 講演資料
FIB-TOF-SIMS によるリチウム電池正極粒子表面の劣化物質の評価（Powell 賞受賞記念講演）大西 美和，松岡 修，野木 英信，坂本 哲夫・・・・A-1
Laser-SNMS による有機物分析
石川 丈晴，長嶋 悟，柏木 隆宏，中川 潤，遠藤 克己，
坂本 哲夫，藤井 正明，三澤 健太郎，宮崎 充彦，野田 浩之，蜂谷 正樹・・・・A-6
Ar クラスター連続イオンビームを用いたペプチドの構造評価
青柳 里果, John S. Fletcher,
Sadia (Rabbani) Sheraz, Irma Berrueta Razo, Alexander Henderson,
Nicholas P. Lockyer, and John C. Vickerman・・・・A-10
アルゴンクラスターイオンスパッタを用いたBi 一次イオン照射によるポリマーへのダメージ に関する検討
川島 知子，森田 弘洋，福本 訓明・・・・A-11
球面自己組織化マップ(SSOM)法による各種判別データでのデータ要素間の有意度の算出
徳高 平蔵，大北 正昭， 大木 誠，大藪 又茂，中野 正博・・・・A-15
XPS における自動ピークID に関するRRT 報告 -VAMAS/TWA2/A9 最終報告-
鈴木 峰晴， 福島 整， 田沼 繁夫・・・・A-21
Calculations of Mean Escape Depths of Photoelectrons in Elemental Solids Excited by Linearly Polarized X-ray for High Energy Photoelectron Spectroscopy
S. Tanuma, H. Yoshikawa, H. Shinotsuka, and R. Ueda・・・・A-32
金属とその酸化物のオージェ・２次電子放射特性；CuBe, Mg, Li
後藤 敬典・・・・A-33
Ｘ線励起と電子線励起のCr Auger スペクトルの比較（その後）
福島 整・・・・A-42
硬Ⅹ線光電子分光による微量の触媒活性元素の化学状態分析
吉川 英樹・・・・A-47
第40 回表面分析研究会（2013 年2 月21－22 日）でのWG 活動について
永富 隆清・・・・A-51