巻頭言
平等・互恵、そして新たな国際貢献一村信吾・・・・327
解説
Historical Electron Spectroscopy.I. Works of P.Auger and other pioneersK. Goto・・・・328
やさしいネットワーク利用法 データ転送の基礎（２）
武内豊，古川洋一郎・・・・342
講義：実用電子分光法講座
ノイズ，Ｓ／Ｎ，そして平滑化 ２福島整・・・・350
エネルギー軸の較正
関根 哲・・・・358
研究論文および技術報告
Relative Sputtering Rates for oxides versus Iron using 1 keV Argon IonsS. Suzuki and K. Takimoto・・・・365
Consturuction of the Surface Analysis Network Database
K. Yoshihara・・・・369
InP/GaInAs多層膜のＡＥＳ深さ方向分析のラウンドロビン試験報告（１）
荻原俊弥，田沼繁夫・・・・374
招待論文
Powell賞受賞記念論文：ＸＰＳによる高分子の吸着水の測定 -ＳＡＳ練り込みＰＥ表面の吸着水の膜厚-麻生昭弘，田沼繁夫・・・・388
大気圧加熱による酸化物表面汚染除去効果
柳内克昭・・・・395
データ報告
Effective Inelastic Mean Free Paths and Elastic Scattering factor γel -lithium,sodium,potassium,rubidium,aluminum,silicon,copper,silver,and gold-田沼繁夫，一村信吾，吉原一紘・・・・404
Ｑ＆Ａ
Work Functions and Electron SpectroscopyM.P.Seah・・・・409
ＴＡＳＳＡレポートのたまご
デプスプロファイルの深さ分解能の読み方荻原俊弥・・・・411
スペクトルの質をチェックする基準
堂前和彦・・・・413
Quantitative Analysis with Experimentally Determined Relative Sensitivity Factors
T. Sekine・・・・414
XPS Charge Referencing based on the Presence of Adventitious Hydrocarbons
B.V.Crist・・・・418
AESによる軸校正用スペクトルの測定方法
名越正泰，小泉光正・・・・419
表面分析研究会活動経過報告
表面分析データベース構想と共通データ処理環境吉原一紘・・・・420
XPS,AESにおけるエネルギー軸に関する問題
鈴木峰晴，堂前和彦，関根哲・・・・421
ピーク位置決定精度の検討
福島整・・・・422
XPS,AESスペクトルにおける強度軸に関する問題
名越正泰，小泉光正、田中彰博・・・・424
材料別分科会電子材料グループ，第１回測定データの比較について
鈴木峰晴，荻原俊弥，中村誠・・・・426
掲示板
書評
固体表面分析 １，２関根哲・・・・430
話題
XPSにおいて発生分布の非対称に与える弾性錯乱効果の検討佐藤仁美，田中彰博，一村信吾，田沼繁夫，吉原一紘・・・・432
主張：ＣＭＡで測定するオージェ電子スペクトルの絶対
田中彰博，岩井秀夫・・・・435
議事録
第３回金属材料分科会議事録／有機材料分科会議事録第３回電子材料分科会議事録／第３回無機材料分科会議事録
第２回材料分科会幹事会議事録／データベース委員会報告
お知らせ
材料別分科会電子材料グループ アンケート集約結果＊表面分析研究会からのお知らせ／第１回Powell Priseポスターセッション報告
表面分析研究会の概要／会則，その他
＊編集委員会／投稿規定（改正） ／投稿票
付録
User's Guide:Common Data Processing System. Ver.3.1・・・・・・・・・・・・459