巻頭言
Message to Members of the Surface Analysis Society of JapanC.J.Powell・・・・181
講義：実用電子分光法講座
正しい真空度の測りかた一村信吾・・・・182
表面分析の定量評価と標準化
田中彰博・・・・189
研究論文および技術報告
斜入射励起Ｘ線光電子分光法の有用性二澤宏司、奥田和明・・・・213
Loss Function of Iron and Palladium
M.Jo・・・・220
InP/GaInAsP多層膜におけるAES深さ分解能の温度依存性
荻原俊弥、田沼繁夫・・・・227
固体中における電子の有効非弾性平均自由行程（１）
田沼繁夫、一村信吾、吉原一紘・・・・234
スペクトルデータベースの基本構造に関する提案
福島整・・・・242
非経験的分子軌道法によるフッ素脱離させたテフロンの光電子スペクトルの解析
麻生昭弘、北田隆行、田沼繁夫・・・・255
Ｑ＆Ａ
電子分光における仕事関数一村信吾・・・・264
ＴＡＳＳＡレポート
不純Ｘ線・・・・・・・・・・・・267
励起Ｘ線強度の管電圧．管電流依存性
・・・・・・・・・・・・269
ウインドウの厚さとＸ線透過率の関係
・・・・・・・・・・・・271
バックスキャッタ補正計算方法
・・・・・・・・・・・・272
バックスキャッタリング効果の補正方法
・・・・・・・・・・・・274
TPP-2M式による電子の非弾性平均自由行程の推定法
・・・・・・・・・・・・275
ＴＡＳＳＡレポートのたまご
スペクトルの質をチェックする基準堂前和彦・・・・277
XPSにおける軸校正用スペクトルの測定法
名越正康・・・・278
特集：データベース委員会報告
開発計画の日程と当面の課題関根 哲・・・・279
転送データのNPLフォーマットへの変換−サポート作業の現状報告−
福島整・・・・282
データ転送の問題点
古川洋一郎・・・・290
エネルギー軸の校正
鈴木峰晴・・・・296
検索構造と検索項目
吉武道子，吉原一紘・・・・303