巻頭言
「伊能忠敬の偉業を通してみた計測の原点について」吉川 英樹・・・・75
論文
Industrial standardization and quantification of the carrier concentration in semiconductor devices using electric SPMT. Fujita, A. Karen, H. Ito and D. Fujita・・・・76
技術報告
走査電子顕微鏡を用いた水生微生物観察のための簡易試料前処理法 (color)井上 雅彦, 菅波 昌広・・・・81
連載（講義）
反射高速陽電子回折による結晶表面の研究：表面物性研究への応用一宮 彪彦・・・・85
連載（解説）
Common Data Processing System Version 10の使用法―（２）データ処理（その１）― (color)吉原 一紘・・・・94
談話室
表面分析実用化セミナー'12 「日常的な分析業務におけるJIS並びにISO規格の利用」の質疑応答集永富 隆清・・・・99
掲示板
第39回表面分析研究会でのWG活動の報告永富 隆清・・・・116
第39回表面分析研究会ToF-SIMSワーキンググループ議事録 (ppt)
ToF-SIMSワーキンググループ・・・・117
第39回表面分析研究会XPSワーキンググループ議事録
XPSワーキンググループ・・・・136
第39回表面分析研究会Depth Profiling WG討議議事録 (ppt)
Depth Profilingワーキンググループ・・・・138
2012 年度一般社団法人表面分析研究会組織表
・・・・・・・・・・・・141
第49回表面分析研究会幹事会議事録
・・・・・・・・・・・・142
投稿規程
・・・・・・・・・・・・144
投稿票
・・・・・・・・・・・・148
Copyright Transfer Agreement
・・・・・・・・・・・・150
JSA定期購読申込用紙
・・・・・・・・・・・・153
JSAバックナンバー申込用紙
・・・・・・・・・・・・155
編集後記
・・・・・・・・・・・・157
第39回表面分析研究会講演資料
データ解析ソフトウェアCOMPRO の新機能―角度分解XPS を使った半導体バンド曲りの定量評価―吉川英樹、吉原一紘、田沼繁夫・・・・A-45
硬X 線光電子分光法を利用した合金材料および化合物半導体関連材料の評価
大友晋哉・・・・A-48
F.Cup と試料電流による２次電子利得の推測と２次電子の特性；エネルギー分布・オージェ遷移・損失
後藤敬典，井上雅彦，田沼繁夫，山内幸彦・・・・A-52
Ｘ線励起と電子線励起のCr Auger スペクトルの比較
福島整・・・・A-58
深さ方向分析における深さ分解能、界面幅及び界面位置に関するアンケート調査結果について
永富隆清・・・・A-61
集束イオンビーム−飛行時間型−二次イオン質量分析装置（FIB-TOF-SIMS）のご紹介
石川丈晴, 柏木隆宏, 中川潤, 遠藤克己・・・・A-63
光励起脱離分析装置の開発と表面分析
宮林延良・・・・A-67
G-SIMS とg-ogram によるペプチド試料評価へのAr クラスターイオンの有効性の検討
青柳里果，Rasmus Havelund，Ian Gilmore・・・・A-79
第39回表面分析研究会でのWG活動について
永富 隆清・・・・A-80