巻頭言
「久し振りの研究会」名越 正泰・・・・1
技術報告
同軸型直線導入機を用いた試料搬送導入装置の開発小林 英一, 明角 淳志, 瀬戸山 寛之, 岡島 敏浩・・・・2
連載（講義）
反射高速陽電子回折による結晶表面の研究：表面構造解析一宮 彪彦・・・・6
連載（解説）
Common Data Processing System Version 10の使用法―（１）データ構造の変換―吉原 一紘・・・・16
掲示板
パネルディスカッション「企業の分析部門における人材育成とSASJへの期待」の記録吉川 英樹・・・・24
第38回表面分析研究会でのWG活動の報告
永富 隆清・・・・36
第38回表面分析研究会ToF-SIMS WGワーキンググループ議事録
ToF-SIMSワーキンググループ・・・・37
第38回表面分析研究会XPSワーキンググループ議事録
XPSワーキンググループ・・・・51
第38回表面分析研究会Depth Profiling WG討議議事録
Depth Profilingワーキンググループ・・・・55
第48回表面分析研究会幹事会議事録
・・・・・・・・・・・・59
投稿規程
・・・・・・・・・・・・61
投稿票
・・・・・・・・・・・・65
Copyright Transfer Agreement
・・・・・・・・・・・・67
JSA定期購読申込用紙
・・・・・・・・・・・・70
JSAバックナンバー申込用紙
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編集後記
・・・・・・・・・・・・74
第38回表面分析研究会講演資料
Powell賞受賞記念講演化合物半導体表面に形成されるダメージ層の電子線ホログラフィ観察に与える影響
大友 晋哉，佐々木 宏和・・・・A-1
マルチエミッタ評価装置による電子放出素子のその場・リアルタイム観察
村田 英一，原田 久嗣，稲垣 亮祐，下山 宏・・・・A-6
走査型オージェ電子顕微鏡を使った２次電子利得の絶対計測；Au, Ag, Cu
後藤 敬典，山内 幸彦，井上 雅彦，田沼 繁夫・・・・A-11
パネルディスカッション「企業の分析部門における人材育成とSASJへの期待」
吉川 英樹・・・・A-13
化学試験を例としたISO/IEC17025試験認定取得の実際（方法、意義、運営）
川田 哲・・・・A-14
感度係数法による表面定量分析の現状と課題
田沼 繁夫・・・・A-18
VAMAS-電子ビーム損傷ラウンドロビン試験報告
田中彰博、木村 隆、福島 整、岩井 秀夫、荻原 俊弥、田沼 繁夫・・・・A-23
HX-PESならびにXAFSを用いたITOとαNPD界面へ挿入された三酸化モリブデン薄膜の解析
塩沢 一成・・・・A-30
第38回表面分析研究会でのWG活動について
永富 隆清・・・・A-44