巻頭言
表面分析研究会とイノベーション佐藤 美知子・・・・163
論文
Two-Dimensional Nanoscale Imaging of Sugar Distribution Using AFM Force Sensing with Probe Modified by Concanavalin AShigeto Inoue， Yoshio Nakahara， Shinpei Kado， Mutsuo Tanaka， and Keiichi Kimura・・・・164
解説
半球型電子分光器を搭載したオージェ電子分光装置のジオメトリー特性に基づいた傾斜ホルダーを利用した高感度，高深さ分解能オージェ深さ方向分析荻原俊弥，永富隆清，金慶中，田沼繁夫・・・・174
連載（講義）
反射高速陽電子回折による結晶表面の研究：装置編一宮 彪彦・・・・182
談話室
第18 回2 次イオン質量分析国際会議(SIMS XVIII)参加報告大友 晋哉・・・・186
SASJ ソフトウェア勉強会の報告
吉川 英樹・・・・190
掲示板
PSA-11 でのWG 活動の報告永富 隆清・・・・194
PSA-11 におけるToF-SIMS WG 活動報告 （発表資料）
伊藤 博人，ToF-SIMS ワーキンググループ・・・・195
XPS ワーキンググループ活動報告−イオンスパッタ後表面の化学状態分析−
高野 みどり，XPS ワーキンググループ・・・・200
PSA-11 でのデプスプロファイルWG 活動報告
石津 範子，Depth Profiling ワーキンググループ・・・・203
第47 回表面分析研究会幹事会議事録
・・・・・・・・・・・・205
投稿規程 (English)
・・・・・・・・・・・・208
投稿票
・・・・・・・・・・・・212
Copyright Transfer Agreement
・・・・・・・・・・・・214
JSA定期購読申込用紙
・・・・・・・・・・・・217
JSAバックナンバー申込用紙
・・・・・・・・・・・・219
編集後記
・・・・・・・・・・・・221
2011 年度実用表面分析講演会（PSA-11）講演資料
電子分光講義J. D. Lee・・・・A-53
P-01 極低角度入射ビームを用いた高感度，高分解能オージェ深さ方向分析による極薄膜多層試料の分析
○荻原俊弥，永富隆清，田沼繁夫・・・・A-54
P-02 ToF-SIMS GW 活動報告 ラウンドロビンテスト10 報告
○伊藤博人，SASJ TOF-SIMS WG・・・・A-55
P-03 TOF-SIMS WG 活動報告 TOF-SIMS の質量軸較正法に関するラウンドロビンテスト09(RRT-09)最終報告
○大友晋哉，SASJ TOF-SIMS ワーキンググループ・・・・A-56
P-04 GaAs およびGaN 表面上微量金属のTOF-SIMS 相対定量の検討
○大友晋哉，東純史・・・・A-57
P-05 3 次元アトムプローブにおける電界蒸発機構の結晶方位依存性に関する研究
○清水 真人，森田 真人，花岡 雄哉，尾張 真則・・・・A-58
P-06 レクチン修飾探針を用いたモデル生体膜における糖鎖の2 次元分布可視化
○井上滋登，中原佳夫，門晋平，田中睦生，木村恵一・・・・A-59
P-07 金基板上単分子膜のXPS 測定時における試料損傷
○齊藤 純輝，倉山 文男，古澤毅，佐藤 正秀，鈴木 昇・・・・A-60
P-08 TOF-SIMS 測定における導電性試料表面の形状と電場効果
○飯田真一，眞田則明・・・・A-61
P-09 「深さ分解能」に関するアンケートへの回答のまとめ（第一報）
○永富隆清・・・・A-62
P-10 近赤外分析法を用いた酸化チタン粉末の表面特性
○小林洋子・・・・A-63
P-11 Ar ガスクラスターイオンビームの最適照射条件とXPS 分析への応用
○宮山卓也，眞田則明，戸津美矢子・・・・A-64
P-12 電子線ホログラフィーによる半導体中のドーパント分布
○佐々木宏和・・・・A-65
P-13 電子線ホログラフィーを用いた化合物半導体中キャリア分布評価における試料加工表面ダメージの影響
○大友晋哉，佐々木宏和・・・・A-66
P-14 固体中の電子の非弾性散乱に関するモデルエネルギー損失関数の評価
○篠塚寛志，吉川英樹，田沼繁夫・・・・A-67
無機粉体の表面状態を調べる新手法
○小林洋子・・・・A-68
二酸化ケイ素を少量含む酸化鉄の溶融条件下における挙動のTEM 内動的解析
○石川信博， 荻原俊弥， 竹口雅樹， 渡辺秀人， 稲見隆・・・・A-72
新規局所電極による電界応力の低減に関する研究
○森田真人， 清水真人， 花岡雄哉， 尾張真則・・・・A-75
シリコン酸化膜による厚さ標準試料
○黒河明， 東康史， 張麓ルウ， 尾高憲二， 藤本俊幸・・・・A-78
MCR による植物組織のToF-SIMS データ解析
○青柳里果， 黒田克史， 高間瑠佳， 福島和彦， 茅野功， 望月精一， 谷野章・・・・A-81
株式会社島津製作所
アルバック・ファイ株式会社
有機フイルム測定用ホルダ