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巻頭言
表面分析装置使用の体験記鈴木 茂・・・・186
技術報告
ToF-SIMS における冷却測定－有機材料表面の測定における繰り返し性の向上－伊藤 博人・・・・187
連載（講義）
光電子分光法 III 拡張励起によるサテライトJ. D. Lee, 永富 隆清, 水谷 五郎, 遠藤 一央・・・・196
談話室
第17 回2 次イオン質量分析国際会議 (SIMS XVII) 参加報告大友 晋哉・・・・214
投稿規程
・・・・・・・・・・・・219
投稿票
・・・・・・・・・・・・224
Copyright Transfer Agreement
・・・・・・・・・・・・226
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・・・・・・・・・・・・229
JSAバックナンバー申込用紙
・・・・・・・・・・・・231
編集後記
・・・・・・・・・・・・233
2009年度実用表面分析講演会 (PSA-09) 講演資料
P-1 半球型電子分光器を搭載したオージェ電子分光装置のジオメトリー特性と傾斜ホルダーを利用した超高深さ分解能オージェ深さ方向分析
○荻原俊弥，永富隆清，田沼繁夫・・・・A-97
P-2 AES による絶縁物試料の分析手法
○田中章泰，堤建一・・・・A-98
P-3 実験室系硬X 線光電子分光分析装置の開発
○岩井秀夫，小畠雅明，山瑞拡路，田中彰博，鈴木峰晴，池永英司，松田博之，
大門寛，田沼繁夫，小林啓介・・・・A-99
P-4 マルチアノードXPS によるSiO 粉末試料の解析
○當麻肇・・・・A-100
P-5 各種汎用ポリマーのC60+イオンエッチング速度
○山脇健太郎，野本裕香・・・・A-101
P-6 有機材料のTOF-SIMS デプスプロファイリングにおけるC60 イオンの入射角依存性
飯田真一，○宮山卓也，眞田則明，鈴木峰晴・・・・A-102
P-7 帯電液滴衝撃(EDI)/SIMS による金属酸化膜の深さ方向分析
○境悠治，飯島善時，平岡賢三・・・・A-103
P-8 帯電液滴衝撃(EDI)-SIMS を用いたポリカ－ボネート(PC)の深さ方向分析
○向宗一郎，境悠治，平岡賢三・・・・A-104
P-9 帯電液滴エッチング法を用いたポリイミド・ポリ塩化ビニルフィルムのXPS 深さ方向分析
○飯島善時，境悠治，平岡賢三・・・・A-105
P-10 ToF-SIMS WG 活動報告 ラウンドロビンテスト08 の結果
○伊藤博人，ToF-SIMS ワーキンググループ・・・・A-106
P-11 ToF-SIMS ワーキンググループ活動報告
○阿部芳巳，ToF-SIMS ワーキンググループ・・・・A-107
P-12 ファラデーカップの特性も単純ではない
○後藤敬典，黒川明，山内幸・・・・A-108
P-13 絶縁体の二次電子収率測定（Ⅰ）パルス一次電子ビームの発生
有馬智幸，榮宏之，○宮川拓也，井上雅彦・・・・A-109
P-14 パルスイオン照射を用いたMgO 薄膜のイオン誘起二次電子収率測定 [I]
－膜厚50 nm のMgO 薄膜のイオン誘起二次電子収率－
○村澤裕子，山内郁馬，吉野恭平，永富隆清，高井義造，森田幸弘，西谷幹彦，
北川雅俊・・・・A-110
P-15 パルスイオン照射を用いたMgO 薄膜のイオン誘起二次電子収率測定 [II]
－膜厚50 及び200 nm のMgO 薄膜－
○永富隆清，山内郁馬，村澤裕子，吉野恭平，高井義造，森田幸弘，西谷幹彦，
北川雅俊・・・・A-111
P-16 深さ分析プロファイルの深さ分解能，界面幅，界面位置はどうやって決めるの？
[I] －ISO における定義，実用上の課題，標準化に向けての取り組み－
○永富隆清，荻原俊弥，田沼繁夫・・・・A-112
P-17 プロジェクト報告「スペクトル強度分散評価ラウンドロビンテスト：XPS」第１報
〇福島 整，荒木祥和，木村昌弘，石津範子，伊藤博人，岩井美奈，岩井秀夫，岩瀬鋭二良，森本孝，大村和世，岡島康雄，
佐藤美知子，相馬誠，高橋和裕，高野みどり，武内豊，辻本裕子，安福秀幸，田中彰博，後藤敬典・・・・A-113
佐藤美知子，相馬誠，高橋和裕，高野みどり，武内豊，辻本裕子，安福秀幸，田中彰博，後藤敬典・・・・A-113
P-18 ウスタイトを構成する鉄と炭素の存在比による炭素との反応性の変化
〇石川信博，荻原俊弥，竹口雅樹，原田嵩弘，稲見隆・・・・A-114
P-19 油圧作動油により生成した潤滑膜の分析
○今野聡一郎，小西友弘，岩波睦修，小西正三郎・・・・A-115
P-20 AES によるステンレス鋼（SUS304,SUS3156）表面自然酸化膜の解析
○瀬下洋平，苅谷義治，木村隆・・・・A-116
P-21 低速電子線誘起反応とトンネル反応により合成した炭素薄膜の表面分析
○森田直樹，伊東佑将，胡雪氷，土屋新平，渡辺陵，佐藤哲也，山本千綾，有元圭介，
山中淳二，中川清和・・・・A-117
P-22 液相析出法とマイクロ波放電プラズマ加熱法により合成した酸化チタンの表面分析
○本郷健太，荒井哲司，佐藤哲也，中川清和・・・・A-118
P-23 コアシェル構造を持つAg-ジアセチレン ナノ粒子の硬Ⅹ線光電子分光およびⅩ線吸収スペクトル解析
○吉川英樹，木村昌弘，増原陽人，田沼繁夫，中西八郎，及川英俊・・・・A-119
P-24 Kr+イオンビーム照射によるキトサンフィルム改質およびその表面解析
○篠宮弘行，高橋克宗，遠藤一央，鈴木嘉昭，矢島博文，田村渓一郎，井田朋智・・・・A-120
P-25 モンテカルロ計算および量子力学的散乱理論によるCuO およびSiO2 の放出深さ分布関数の計算
○篠塚寛志，吉川英樹，田沼繁夫，藤川高志・・・・A-121
P-26 量子化学計算による強誘電性PVDF フィルムの電子状態
〇伊藤哲，遠藤一央，古川猛夫，矢島博文・・・・A-122
O-1 帯電液滴衝撃（EDI）エッチング法によるポリマーのSIMS、XPS の深さ方向分析
〇境悠治，飯島善時，平岡賢三・・・・A-123
O-2 低速電子線誘起反応と水素原子の低温トンネル反応による炭素薄膜の極低温合成
〇佐藤哲也・・・・A-128
O-3 電気化学－光電子分光法並びに電気化学－走査型トンネル顕微鏡を用いた燃料電池反応解析
〇脇坂暢・・・・A-132
O-4 光による表面科学へのアプローチ
〇堀裕和・・・・A-138
O-5 マイクロビーム分析に関する標準化の動向と今後の展開（ISO TC202～EPMA を中心に～）
〇木村隆・・・・A-142
O-6 プロジェクト報告「スペクトル強度分散評価ラウンドロビンテスト」第１報
〇福島整，荒木祥和，木村昌弘，石津範子，伊藤博人，岩井美奈，岩井秀夫，岩瀬鋭二良，森本孝，大村和世，岡島康雄，
佐藤美知子，相馬誠，高橋和裕，高野みどり，武内豊，辻本裕子，安福秀幸，田中彰博，後藤敬典・・・・A-143
佐藤美知子，相馬誠，高橋和裕，高野みどり，武内豊，辻本裕子，安福秀幸，田中彰博，後藤敬典・・・・A-143
O-7 XPS WG 報告「Ag 酸化物のX 線照射損傷に関するラウンドロビン試験」
〇渡部秀敏，XPS ワーキンググループ・・・・A-150
O-8 いろいろな炭素の電子分光
〇後藤敬典，山内幸彦，黒川明，亀川克美，楠美智子，遠藤一央，岡村浩・・・・A-155
O-9 41 元素固体における IMFP の計算
〇田沼繁夫，C. J. Powell, and D. R. Penn・・・・A-159
O-10 Ar クラスターイオンビームを用いたポリイミド薄膜のXPS 深さ方向分析
〇宮山卓也，間宮一敏，眞田則明，鈴木峰晴・・・・A-162
O-11 COMPRO10 の使用方法
〇吉原一紘・・・・A-165