巻頭言
「どんな店で，何を食するか？」鈴木 峰晴・・・・1
論文
Round Robin Test for the Quantification and Standardization of Sample Damage during XPS MeasurementsF. Kurayama, N. Suzuki, M. Sato, T. Furusawa, H. Isahara, Y. Kikuchi, S. Fukushima, M. Takano, E. Iwase, R. Inoue, M. Sato, and T. Itoh・・・・2
解説
固体表面上有機薄膜のXPS測定とその応用鈴木 昇・・・・12
連載（講義）
電子光学入門 － 電子分光装置の理解のために － 第13回嘉藤 誠・・・・20
光電子分光法 I 歴史と概説
J. D. Lee, 永富 隆清, 水谷 五郎, 遠藤 一央・・・・42
談話室
国際ワークショップiSAS-09開催記吉川 英樹, 永富 隆清, 高橋 和裕・・・・64
掲示板
ノイズの振る舞いの定量的表現（プロジェクト化の検討）福島 整・・・・70
Erratum
Erratum: “Oxygen Enhanced Surface Roughening of Si(111) Induced by Low-Energy Xe+ Ion Sputtering” [J. Surf. Anal. 15, 325 (2009)]T. Miyagawa, K. Inoue, and M. Inoue・・・・73
表面分析研究会 2008年事業報告（抜粋）
柳内 克昭・・・・74
無限責任中間法人表面分析研究会細則
・・・・・・・・・・・・77
2008 年度無限責任中間法人表面分析研究会組織表
・・・・・・・・・・・・79
講演委員会運営規則
・・・・・・・・・・・・80
編集委員会運営規則
・・・・・・・・・・・・81
投稿規程
・・・・・・・・・・・・82
投稿票
・・・・・・・・・・・・87
Copyright Transfer Agreement
・・・・・・・・・・・・89
JSA定期購読申込用紙
・・・・・・・・・・・・92
JSAバックナンバー申込用紙
・・・・・・・・・・・・94
編集後記
・・・・・・・・・・・・96
2008年度実用表面分析講演会（PSA-08）講演資料
P-1 傾斜ホルダーを用いた高分解能オージェ深さ方向分析○荻原俊弥，田沼繁夫・・・・A-1
P-2 高温でのSc-O/W(100)表面の相転移中の表面反応カイネティクス
－オージェスペクトルプロファイル解析と表面反応のモデリング－
中西洋介，○永富隆清，高井義造・・・・A-2
P-3 種々の単体元素における300 から3000 eV の電子に対する非弾性平均自由行程並びに表面励起パラメーター
○永富隆清，後藤敬典・・・・A-3
P-4 断面AES分析における炭素,酸素吸着の低減
○佐藤美知子，白井詩織・・・・A-4
P-5 はんだ実装工程管理のためのAu 表面Ni 拡散量評価方法の検討
○高野みどり・・・・A-5
P-6 ToF-SIMS における冷却測定
○伊藤博人，岩丸俊一・・・・A-6
P-7 ToF-SIMS WG 第2回ラウンドロビンテスト経過報告
○伊藤博人，ToF-SIMS ワーキンググループ・・・・A-7
P-8 Influence of Annealing on Alloy Composition in Surface Layer of Chemical Derived FeCo Nanoparticles
（液相化学合成したFeCoナノ粒子の表面合金組成に及ぼす熱処理の影響）
○G. B. Chon, D. Kodama, K. Shinoda, S. Suzuki, and B. Jeyadevan・・・・A-8
P-9 放射光光電子分光を用いたMOSFET 用ゲート絶縁膜の深さ方向分析
○豊田智史，組頭広志，尾嶋正治，劉国林，劉紫園，池田和人・・・・A-9
P-10 帯電水滴衝撃エッチングしたポリマー表面のXPS 分析
○境悠治，飯島義時，平岡賢三・・・・A-10
P-11 多原子イオン源を使用した有機物のXPSスパッタデプスプロファイリング
S. C. Page，I. W. Drummond，○高橋和裕・・・・A-11
P-12 硬Ｘ線光電子分光のための単色化Cr Ka集束X線源の開発
○岩井秀夫，小畠雅明，山瑞拡路，田中彰博，鈴木峰晴，池永英司，松田博之，
大門寛，田沼繁夫，小林啓介・・・・A-12
大門寛，田沼繁夫，小林啓介・・・・A-12
P-13 XPSワーキンググループ活動報告 －Si系酸化物測定に関する報告－
○當麻肇，XPSワーキンググループ・・・・A-13
P-14 XPSワーキンググループ活動報告 －Ag系酸化物測定に関する報告－
○當麻肇，薗林豊，渡部秀敏，XPSワーキンググループ・・・・A-14
P-15 多層グラフェンのバルク敏感XPSによる解析
小川修一，角治樹，高見知秀，西窪明彦，池永英司，二瓶瑞久，高桑雄二・・・・A-15
P-16 Si(001)表面炭化／酸化過程のリアルタイムXPS測定
穂積英彬，小川修一，吉岡章隆，石塚眞治，寺岡有殿，高桑雄二・・・・A-16
P-17 深さ分解XPSおよびXASによる固体酸化物燃料電池電極材料の化学状態分析
柳瀬宏貴，篠田弘造，八代圭司，水崎純一郎，鈴木茂・・・・A-17
P-18 SPring-8を用いた硬Ⅹ線光電子分光法の燃料電池ナノ材料解析への応用
（Application of Hard X-ray Photoemission Spectroscopy at SPring-8 to Nanomaterials of Fuel Cell）
○吉川英樹，高橋基，森利之，戸ヶ崎寛孝，山下良之，上田茂典，小林啓介，
Vladimir Matolin，John Drennan，Ding Rong Ou・・・・A-18
Vladimir Matolin，John Drennan，Ding Rong Ou・・・・A-18
P-19 Ⅹ線光電子スペクトルにおける非対称パラメーターと表面励起効果の定量評価
○吉川英樹，田中博美，木村昌弘，荻原俊弥，木村隆，福島整，岡本直樹，
熊谷和博，田沼繁夫，鈴木峰晴，奥井真人，小林啓介・・・・A-19
熊谷和博，田沼繁夫，鈴木峰晴，奥井真人，小林啓介・・・・A-19
P-20 Analysis of angular and energy dependences on reflection electron energy loss spectra of Si
○Hua Jin, Hideki Yoshikawa, Hideo Iwai, Shigeo Tanuma・・・・A-20
P-21 量子力学的多重散乱理論による深さ分布関数の計算
○篠塚寛志，荒井礼子，藤川高志，田沼繁夫・・・・A-21
P-22 XPSにおける信号ばらつきの実測評価
〇福島整，田中彰博，後藤敬典・・・・A-22
P-23 クラスター計算によるLi Kaへの化学状態の影響の検討
〇福島整，荻原俊弥，木村隆，田沼繁夫・・・・A-23
P-24 NiO, CoO単結晶表面の軟X線出現電位分光（SXAPS）スペクトルの測定と NEXAFS スペクトルとの比較
望月佐知枝，眞田則明，○福田安生・・・・A-24
P-25 深さ分解Ｘ線吸収分光法によるFe-Mn合金表面の元素濃集および酸化層の解析
○篠田弘造，山本孝充，鈴木茂・・・・A-25
P-26 シリサイド界面における不純物偏析のアトムプローブによる評価
（Atom Probe Evaluation of Impurity Segregation at Silicide Interface）
○佐々木幹雄・・・・A-26
P-27 室温大気圧下におけるCo添加ルチルTiO2の表面磁化の異方性の研究
○渡邊亮輔，田邨光規，水谷五郎，鈴木隆則，瀬川勇三郎，松本祐司，山本雄一，鯉沼秀臣・・・・A-27
P-28 鉄／炭素接合界面で起こる反応のその場解析
○石川信博，青柳岳史，木村隆，古屋一夫，原田嵩弘，稲見隆・・・・A-28
P-29 Green Rust1(Cl-)の合成とその酸化過程及び生成物の評価
○永田大士，井之上勝哉，篠田弘造，鈴木茂，早稲田嘉夫・・・・A-29
P-30 EPMA散布図分析を応用した鉛フリーはんだとステンレス鋼界面の評価
○瀬下洋平，青柳岳史，木村隆，苅谷義治・・・・A-30
P-31 クラスタイオン銃の試作 －回転電場型質量フィルタの特性評価－
○有馬智幸，入江優，井上雅彦・・・・A-31
P-32 帯電液滴エッチング後のPMMA表面のXPS、SPMによる解析
○飯島善時，境悠治，平岡賢三・・・・A-32
O-1 固―液界面の液体の構造：表面力測定からのアプローチ
○栗原和枝・・・・A-33
O-2 極薄シリコン酸化膜形成における界面歪み誘起反応機構
○高桑雄二・・・・A-38
O-3 電子分光入門・IMFPを測る?（その1）
○田沼繁夫・・・・A-39
O-4 鉄鋼材料の表面・界面における元素濃化と関連特性
○鈴木茂・・・・A-41
O-5 ToF-SIMS WG 活動報告：第1回ラウンドロビンテスト結果の概要
○阿部芳巳，ToF-SIMSワーキンググループ・・・・A-43
O-6 XPSワーキンググループ活動報告
－ラウンドロビンテストの報告（ピーク分離を中心として）－
○當麻肇，薗林豊，渡部秀敏，XPSワーキンググループ・・・・A-50