巻頭言
「大切にしたいもの」井上 雅彦・・・・283
論文
Change of Energy Distribution of He+ Induced Electrons from MgO Thin Film with Ion IrradiationT. Tsujita, K. Nakayama, T. Nagatomi, Y. Takai, Y. Morita, M. Nishitani, M. Kitagawa and T. Uenoyama・・・・284
Determination of Escherichia coli Negative Charge Concentration From XPS Data and Its Variation with pH
F. Hamadi, H. Latrache, A. Elghmari, H. Zahir, M. Mabrrouki and A. E. Elbouadili・・・・293
全反射蛍光X線分析のためのグロー放電スパッタリングによる試料作製
中田 宗寛、辻 幸一・・・・303
解説
球面自己組織化マップ(SSOM)によるXPS,AESスペクトルのクラスタ分類- ソフトウェアblossomの体験使用 -
徳高 平蔵、中塚 大輔・・・・308
表面化学分析におけるソフトウェアと標準化
永富 隆清・・・・316
連載（講義）
電子光学入門 －電子分光装置の理解のためにー 第５回嘉藤 誠・・・・327
SI につながる真の電子スペクトルを求める実験法 (Ⅳ)
後藤 敬典・・・・350
表面電子分光法における信号の減衰は如何に記述されるか？ Ⅲ
XPSおよびAESによる表面定量分析法
田沼 繁夫・・・・357
談話室 「ナノテクノロジーの標準化」
藤田 大介・・・・363
編集後記
・・・・・・・・・・・・364