JASIS

分析現場で役立つ表面分析入門セミナー
～表面分析の勘どころ～
JASIS WebExpo 2022-2023

2022年9月
主催（セミナー）：一般社団法人 表面分析研究会
主催（JASIS）：一般社団法人 日本分析機器工業会／一般社団法人 日本科学機器工業会

　研究開発や製造における技術課題の解決においては，如何に解析プランを立案できるかが鍵であり，そのためには各種分析法の原理を理解しておくことが求められます．特に表面分析は表面感度が高いという特徴を持ち，各種分析法の中からその特徴を活かして表面分析を採用する場合，分析試料の選択や試料前処理を含めた測定条件を適切に選択すれば，他の手法では得られない情報が得られます． 本セミナーでは主に表面分析入門者の方を対象に、表面分析の特徴を活かした解析を行うために役立つ注意点やポイントについて、事例を交えて解説します．

日時：

2022年7月6日(水)～2023年3月15日（水）

場所：

JASIS WebExpo®
https://www.jasis.jp/webexpo/login.html
上記URLにてログイン後，JASIS WebExpo ＞ 関連団体セッション ＞ 表面分析研究会にアクセスしてください．※JASIS WebExpoへの参加登録が必要です．

参加費：

無料

アンケートのお願い：

セミナー聴講後にアンケートへの回答をお願いいたします。
アンケートはSASJブース右上にあるボタン（下記のデザイン）からアクセスしてください。

プログラム：

• 1表面分析とは
  永富 隆清（旭化成株式会社）
• 2XPS/AES/ToF-SIMS/D-SIMSの使い分けー装置編
  眞田 則明（アルバック・ファイ株式会社）
• 3XPS/AES/ToF-SIMS/D-SIMSの使い分け－サンプル編
  大友 晋哉（古河電気工業株式会社）
• 4試料の取り扱いと前処理
  山内 康生（矢崎総業株式会社）
• 5XPS分析のポイントと注意点
  高橋 和裕（株式会社島津製作所）
• 6ToF-SIMS分析のポイントと注意点
  伊藤 博人（コニカミノルタ株式会社）
• 7標準物質のポイントと使い方
  黒河 明（産業技術総合研究所）
• 8XPS/AESにおける帯電補正
  荒木 祥和（株式会社日産アーク）
• 9ラボ用HAXPESの特徴
  牧野 久雄（高知工科大学）
• 10放射光XAFSの特徴
  陰地 宏（東海国立大学機構名古屋大学）