初心者のための実用表面分析講座
「分析現場ですぐに役立つ表面分析のノウハウと知識」
JASIS コンファレンス 2019

2019年7月
主催（セミナー）：一般社団法人 表面分析研究会
主催（JASISコンファレンス）：一般社団法人 日本分析機器工業会／一般社団法人 日本科学機器工業会

日時：

2019年9月5日(木) 9:00－17:00　　　　受付開始：8:45～

場所：

幕張メッセ国際会議場 104会議室（JASIS 2019会場併設）
〒261-8550 千葉市美浜区中瀬2-1 株式会社幕張メッセ　　TEL: 043-296-0001（代）

https://www.m-messe.co.jp/

参加費：

無料

事前登録：

不要

プログラム：

• 09:00 ～ 09:10開会挨拶
  
• 09:10 ～ 10:05表面分析概論
  柳内 克昭（TDK(株)）
• 10:05 ～ 11:00AES/XPS/SIMS の基礎
  吉原 一紘（国立研究開発法人 物質・材料研究機構 名誉顧問）
• 11:00 ～ 13:00休憩
• 13:00 ～ 13:55試料の取り扱いと試料前処理
  荒木 祥和（(株)日産アーク）
• 13:55 ～ 14:50初心者のための AES 分析の勘どころ
  山内 康生（矢崎総業(株)）
• 14:50 ～ 15:00休憩
• 15:00 ～ 15:55初心者のための XPS 分析の勘どころ
  島 政英（日本電子(株)）
• 15:55 ～ 16:50初心者のための TOF-SIMS 分析の勘どころ
  飯田 真一（アルバック・ファイ(株)）
• 16:50 ～ 17:00閉会挨拶