- JASIS コンファレンス
2016年6月
主催（セミナー）：一般社団法人 表面分析研究会
主催（JASISコンファレンス）：一般社団法人 日本分析機器工業会／一般社団法人 日本科学機器工業会
材料や機能の発現する場がナノサイズ化することに伴い，表面化学分析手法はものづくりを進めるうえで必須のツールとなりました．近年，分析装置は誰でもが扱える操作性を持つようになりましたが，表面 をありのままに分析しようとする場合にはさまざまなノウハウ，配慮すべき点があります．本セミナーで は主に現場で表面分析装置を扱い始めたばかりの方を対象に，表面をありのままに測定するために知って おきたいことを，実例を交えて平易に解説します．
- 日時：
- 2016年9月9日(金) 9:00－17:00 受付開始：8:45～
- 場所（JASIS 2017会場併設）：
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幕張メッセ国際会議場 103会議室
〒261-8550 千葉市美浜区中瀬2-1 株式会社幕張メッセ TEL: 043-296-0001（代）
https://www.m-messe.co.jp/ - 参加費：
- 無料
- 事前登録：
- 不要
- プログラム：
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- 09:00 ～ 09:10開会挨拶
- 09:10 ～ 10:05表面分析概論
柳内 克昭（TDK(株)） - 10:05 ～ 11:00AES/XPS/SIMS の基礎
吉原 一紘（シエンタオミクロン(株)） - 11:00 ～ 13:00休憩
- 13:00 ～ 13:55試料の取り扱いと試料前処理
荒木 祥和（(株)日産アーク） - 13:55 ～ 14:50初心者のための TOF-SIMS 分析の勘どころ
伊藤 博人（コニカミノルタ(株)） - 14:50 ～ 15:00休憩
- 15:00 ～ 15:55初心者のための AES 分析の勘どころ
荻原 俊弥（国立研究開発法人 物質・材料研究機構） - 15:55 ～ 16:50初心者のための XPS 分析の勘どころ
島 政英（日本電子(株)） - 16:50 ～ 17:00閉会挨拶
- 09:00 ～ 09:10開会挨拶